斜纹布lwissenschaftliche Forschung

Nanomaterialien

In der heutigen Zeit ist selbst ein scheinbar simples Objekt wie ein Reifen in Wirklichkeit ein technologisches Wunderwerk der Nanotechnik mit der aus einer Mischung aus bestimmten Polymeren und Füllstoffen besteht.

Analyse komplexer Systeme im Nanobereich

Das Verständnis dieser und anderer komplexer Systeme im Nanobereich ist entscheidend für den Konstruktionsprozess und für das immerwährende Bestreben, neue Produkte in immer kleineren Größen zu entwickeln. Nanomaterialien sind Stoffe mit einer oder mehreren Größenordnungen unter 100 nm. Die Entwicklung vieler Technologien und in zahlreichen Industriezweigen beruht auf der Nanotechnologie. Sie schlägt die Brücke über viele Forschungsbereiche, wie z. B. Biologie, Chemie, Physik und Technik. Daher werden in der Nanomaterialforschung verschiedene etablierte Analysemethoden eingesetzt. Als Bestandteil alltäglicher Produkte werden Nanomaterialien in verschiedenen Verbraucher- und Industrieanwendungen eingesetzt, wie z. B. in Halbleiterbauelementen, in der Medizin, in der Solartechnik, in der Kosmetik, in Baumaterialien, in Kleidung, in Haushaltsgeräten und in Lebensmitteln.

Zugehorige Produkte

Elektronenmikroskop-Analysatoren

Bruker bietet leistungsstarke Analyselösungen für die Abbildung der chemischen Elementverteilung bis hin zu Spurenelementen oder einzelnen Atomen sowie der kristallographischen Orientierung bis in den Nanobereich. Diese Techniken umfassen EDS auf SEM, EDS auf TEM und STEM, On-axis-TKD, EBSD. Diese sich ergänzenden Techniken sind vollständig in einer Software integriert, damit Forscher quantitative Daten kombinieren können. Der einzigartige OPTIMUS™ TKD-Detektorkopf von Bruker ermöglicht die Abbildung der Kristallorientierung mit einer effektiven räumlichen Auflösung von mindestens 2 nm bei hoher Geschwindigkeit und Datenqualität, während weniger als 2 nA Sondenstrom erforderlich sind. Diese Eigenschaften machen den OPTIMUS™ TKD zur leistungsfähigsten Lösung für die quantitative und qualitative Charakterisierung von Nanomaterialien auf dem Markt.

EDS, WDS, EBSD, SEM Micro-XRF

FT-IR-Forschungsspektrometer

Für die Untersuchung der Funktionen von nanostrukturiertem Material, insbesondere des sogenannten neuartigen Metamaterials, in verschiedenen Wellenlängenbereichen dient die FT-IR-Technik als leistungsstarkes Hilfsmittel, da mit ihr die optische Reaktion des Bulkmaterials im Reflexions- und Transmissionsmodus mühelos gemessen werden kann. Diese Technik hat sich in der Photonik-Industrie gut bewährt.

Laboratory FT-IR spectrometers

斜纹布lforschungs-AFM

Die quantitative nanomechanische Analyse in Verbindung mit hochgenauen topographischen Messungen ist eine der Methoden von Bruker, mit der die Funktion komplexer Materialien entschlüsselt werden kann. Von Modulmessungen im Mega- bis Gigapascal-Bereich, Adhäsions- und Reibungsbildern, kalorimetrischen und elektrischen Daten, korrelierter Nanoskalen-AFM und Raman-Spektroskopie bis hin zu dreidimensionalen morphologischen Darstellungen mit Sub-Nanometer-Genauigkeit – Bruker verfügt über die AFM-Lösung für Ihr Problem.

High-Resolution AFMs

PicoIndenter für SEM und TEM

Als Weltmarktführer für nanomechanische Prüfsysteme erleichtert Ihnen Bruker mit den PicoIndentern der Serie Hysitron PI die Durchführung von mechanischen In-situ-Experimenten mit Ihrem Mikroskop. Unser einzigartiges Messwandler-Design liefert unübertroffene Stabilität während Ihrer Experimente, was auch im Nanobereich zu präzisen Daten führt. Die Videoaufnahme über das Mikroskop ermöglicht die Überwachung in Echtzeit und die direkte Korrelation der mechanischen Daten mit der Bildgebung des Mikroskops. Mit Lösungen, die für viele der gängigen Mikroskop-Marken geeignet sind, finden mit Sicherheit auch Sie eine Lösung, die optimal für Ihre Forschung geeignet ist.

Nanomechanical Instruments

Streusysteme

Kleinwinkel-Röntgenstreuung

Partikelanalyse und Nanomaterialcharakterisierung von 0,1 bis 1 nm

Röntgendiffraktometer

Röntgenbeugung

Kristallographische Struktur, Materialeigenschaften und Phasenanalyse von kristallinen und amorphen Pulvern, Schüttgütern und Dünnschichten.