Analysesysteme für Elektronenmikroskope

QUANTAX FlatQUAD

HöchsteFemizienzBei derRöntgendetektion

Unübertroffener Durchsatz

analysieren von Empfindlichen探讨

xflash_flatquad_drop_shadow_4 + 5_cut_out.

Highlights

1
nm
Ortsauflösung
Ortsauflösung im Nanometerbereich im REM
>1,1
sr
Größter Raumwinkel
Der Raumwinkel Gibt Die Effizienz An,Welche der ErzeugtenRöntgenstrahlenGeometrisch Erfassbar Sind。
2,400
kcps
Durchsatz
4-Mal Schneller AlsHerkömmlicheEds-Detektoren

QUANTAX FlatQUAD - Wo herkömmliche SDDs ihre Grenzen erreichen

QUANTAX FlatQUAD ist das EDS-Mikroanalysesystem auf Basis des revolutionärenXFlash®FlatQUAD. Dieser ringförmige Vierkanal-Silizium-Driftdetektor wird zwischen REM-Polschuh und Probe platziert, wodurch ein maximaler Raumwinkel bei EDS Applikationen erreicht wird. In Kombination mitESPRIT, der Analysesoftware-Lösung, bietet QUANTAX FlatQUAD eine unübertroffene Mapping-Performance, selbst für die schwierigsten Proben.

  • Extrem schnelles Mapping mit nur moderaten Strahlströmen
  • Analyse von strahlempfindlichen Materialien bei extrem niedrigen Strahlströmen (< 10 pA), z.B. biologische oder Halbleiterproben
  • Untersuchung von Proben mit hoher Topographie, Vermeidung von Abschattungen
  • Analyse von Nanopartikeln und Nanostrukturen bei geringer Hochspannung und höchster Vergrößerung
  • Analyse von extrem dünnen Lamellen (z.B.TEM-Proben) und anderen Proben mit geringer Röntgenausbeute am REM.

涡旋

Maximieren Sie Ihre Effizienz

Das einzigartige ringförmige Design des BrukerXFlash®FlatQUAD-Detektorund seine Positionierung zwischen REM-Polschuh und Probe führen zu einem unübertroffenen Raumwinkel, der sich direkt in schnellere Messungen niederschlägt. Zusammen mit derESPRITSoftware Suite ist der QUANTAX FlatQUAD das ideale Instrument zur Analyse z.B. empfindlicher Proben bei geringsten Strahlströmen oder Proben mit hoher Topographie.

derXFlash®FlatQUADverwandelt Ihr REM oder FIB in ein analytisches Niederspannungs-STEM, um elektronentransparente Proben mit höchster räumlicher und spektroskopischer Auflösung zeitnaher und kostengünstiger zu analysieren.

UM noh mehr信息alus ihren elektronentransparenten proben zu gewinnen,kombinieren sie den xflash®FlatQUAD zusammen mit dem eFlash EBSD Detektor mitOPTIMUSDetektorkopf.

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