Bruker的大样本尺寸IconIR系统将纳米级红外光谱(IR)和扫描探针显微镜(SPM)结合在一个平台上,为学术研究人员和工业用户提供最先进的光谱、成像和属性映射功能。IconIR结合了数十年的研究和技术创新,基于并建立了Dimension Icon®的业界最佳AFM测量能力,提供了无与伦比的性能。该系统支持相关的显微镜和化学成像,提高了分辨率和单层灵敏度,同时其独特的大样本结构为最广泛的应用提供了终极样本灵活性。必威东盟体育
在单一系统中,IconIR提供了纳米级红外光谱、化学成像分辨率和单层灵敏度的最高性能。
只有尺寸IconIR提供:
*标准系统支持高达150 mm的样品,也可提供能够容纳较大样品的版本。
与Bruker独家PeakForce攻丝纳米级属性映射和专有纳米红外光谱技术一起,Dimension IconIR系统的大样本平台特别适合于电或化学反应环境中材料和活性纳米系统的相关研究,甚至是具有强机械异质性的复杂系统。必威手机客户端
Iconir提供:
Bruker是基于光热AFM-IR的纳米IR光谱的创新者,拥有专利,独特的纳米IR模式套件。这些模式使IconIR能够提供与FT-IR光谱相关的高速、高性能光谱。多种模式支持对工业和学术用户的广泛样本进行测量。必威东盟体育
Iconir提供:
图标的行业领先的AFM性能和Bruker的专利攻丝AFM-IR成像在一起,共同增强了我们纳米技术的空间分辨率和样品可访问性,将其应用于未目前由光热AFM-IR技术解决的段。
Iconir提供: