WDXRF等级控制

波长色散x射线荧光光谱仪(WDXRF)提供优越的分析精度和精度在等级控制实验室。和EDXRF一样，WDXRF中的所有元素都是由x射线源激发的。与EDXRF不同的是，产生的二次x射线是向不同的方向衍射，然后依次或由一系列探测器对每个元素进行测量。这种波长衍射允许高光谱分辨率和消除重叠。这为复杂矿石的品位控制提供了较低的探测范围。WDRFD在品位控制方面的一些优势:

• 当需要低方差测量时，提供高度精确的矿物分析结果，或在需要低检测限的地方分析微量元素
• 对具有复杂重叠的元素的精确测量，如砷、铅和金
• 符合ISO 9516-1:2003对铁矿石中铁、硅、钙、锰、铝、钛、镁、磷、硫、钾、锡、钒、铬、钴、镍、铜、锌、砷、铅、钡等的严格要求。
• 满足高重复性分析的要求。