eFlash高清

高清晰度EBSD检测器

具有近200万像素(1600 x 1200像素)的原生CCD分辨率和最先进的相机光学,最大限度地减少扭曲,新的eFlash高清探测器提供高清晰度菊池模式,显示最精细的细节。eFlash HD是残余应变分析(HR-EBSD)的理想选择。数据集包含eFlash高清高质量模式也适合与第三方软件交叉相关分析,如croscourt4。

典型的应用

  • HR-EBSD(残余应变分析)
  • 精准识别阶段
  • 晶体结构中的伪对称分析

与它的前辈(eFlash HR)相比,新的eFlash HD探测器具有改进的冷却系统,减少CCD的暗电流的四倍。因此,生成的菊池图案现在有了更好的质量,包括更高的信噪比。

新的eFlash高清探测器使用高效率和高质量的荧光屏,以获得高细节菊池图案。高像素分辨率CCD芯片和小粒径荧光粉材料的组合保证了20 μm图案的最终像素尺寸,使图案上的微小移动可见。

eFlash HD高精度导向系统,屏幕定位精度优于10 μm。因此,新的eFlash HD是使用基于屏幕移动的方法进行图案中心校准的最佳解决方案。

eFlash HD可与ARGUS™森林/背向散射电子成像系统一起使用。这进一步增加了探测器的通用性,并为有意义和有效的微观结构表征提供了有价值的附加信息。

新的eFlash HD还可以与独特的OPTIMUS™TKD检测器头改装,以最佳的样品检测器几何形状分析电子透明样品。

eFlash高清高细节和高分辨率模式。
对于TKD与最佳样品检测器几何:eFlash HD与水平OPTIMUS检测器头。