QUANTAX Compact由XFlash组成®600 Mini硅漂移检测器(SDD),一个小型电子单元和直观的软件ESPRIT Compact。该系统对元素范围从硼(5)到锎(98)的所有材料进行定性和定量分析。必威手机客户端
除了样品表面单个点的成分分析外,QUANTAX Compact还提供了强大的线扫描和光谱元素映射函数。通过使用QUANTAX Compact,分析和报告在几秒钟内完成。
关键特性
如需特殊解决方案,请访问QUANTAX 75,QUANTAX 80和QUANTAX Compact30。