XFlash 6 - 100椭圆形
用于SEM, FIB-SEM和STEM-in-SEM的高收集角无窗EDS系统
面积大，收集角度高，无窗EDS探测器椭圆形，直径100mm2SDD是为SEM中的特定几何形状精心定制的。独特的形状和先进的细线设计使采集位置得到优化，在不影响SEM性能的情况下，x射线采集可达到0.4 sr的立体角。
总之，XFlash®6-100椭圆具有以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角度可达0.4 sr，适应性不同
- 所有SEM类型的最大加速电压:30kev
- 起飞角度一般为30°…35°
- 焊接波纹管和x射线密封百叶窗(可选)
- 互不干扰的冷却系统
- 自动探测器收放系统
- 优异的轻元素和低能耗性能
- 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件
XFlash应用的建议区域®6 - 100椭圆是:
利用SEM、FIB-SEM和STEM-in-SEM中的EDS进行高端元素分析，主要针对:
- 低kV和束敏样品
- 光元素分析
- 高空间分辨率
- 高速数据采集