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Xflash 6-100椭圆形

SEM,FIB-SEM和Stew-In-SEM的高收集角窗口EDS系统

这个大面积,高收集角度,无窗eds.卵形形状为100mm的探测器2SDD为SEM的特定几何体仔细定制。艺术纤维线设计的独特形状和状态允许优化实现高达0.4 SR的X射线集合的立体角的采集位置,而不会影响SEM性能。

总之,Xflash®6-100椭圆形提供以下优点:

  • 100毫米2地区,窗口
  • 固体收集角度高达0.4 sR,适应变化
  • 所有SEM类型的最大加速电压:30 keV
  • 典型为30°的起飞角度... 35°
  • 焊接波纹管和X射线紧密快门(可选)
  • 非干扰冷却系统
  • 自动检测器收缩系统
  • 优异的轻质元件和低能量性能
  • Bruker多功能的所有优势分析软件

建议Xflash申请领域®6-100椭圆形是:

EDS在SEM,FIB-SEM和Stem-In-SEM中的高端元素分析:

  • 低kV和光束敏感样品
  • 光元素分析
  • 高空间分辨率
  • 快速数据采集