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Xflash 6T-100椭圆形

用于杆的高收集角度EDS系统

这个大面积,高收集角度,无窗eds.卵形形状为100mm的探测器2为每个合适的极靴几何形状仔细定制SDD。独特的形状和最先进的细线设计允许优化采集几何形状,以实现非常具体的改造条件。

对X射线收集的固体角度显示为在超过13°剥离角度的杆中达到0.7SR,提供原子柱元素映射和单个杂原子鉴定[1,2]。

[1]室温多体材料中磁离子分区的直接原子尺度测定(开放式访问)

科学报告7,(2017)条:1737;作者:L. Keeney等人。

[2]用X射线光谱识别单个杂原子鉴定(开放式访问)

应用物理信第108卷,问题16,163101(2016);作者:R. M. stroud,T.C. Lovejoy,M.Falke,N. D. D.Bassim,G. J.Corbin,N. Dellby,P.Hrncirik,A.Kaeppel,M. Noack,W.Hahn,M. Rohde和O. L. Krivanek。

总之,Xflash®6T-100椭圆形提供以下优点:

  • 100毫米2地区,窗口
  • 固体收集角度高达0.7 sR,适应变化
  • 适应范围高达13.4°的起飞角度
  • UHV兼容
  • X射线紧截绒
  • 非干扰冷却系统
  • 优异的低能量性能,需要分析光元素和重叠的L-,M- ......低能量区域中的更高Z元素的线条
  • Bruker多功能的所有优势分析软件

建议Xflash申请领域®6T-100椭圆形是:

通过TEM和茎中的EDS高端元素分析,包括瞄准的像差校正电子显微镜:

  • 原子分辨率
  • 快速数据采集
  • 痕量元素分析