面积大,收集角度高,无窗EDS探测器椭圆形,直径100mm2SDD为每个合适的极片几何形状精心定制。独特的外形和先进的细线设计允许在非常特定的改造条件下优化采集几何形状。
在STEM中,x射线采集的立体角度可以达到0.7 sr,起飞角超过13°,提供了原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]。
[1]室温多铁材料中磁性离子分配的直接原子尺度测定(开放)
科学报告7,(2017)文章编号:1737;作者:L.基尼等。
[2]用x射线光谱学鉴定单个杂原子(开放)
应用物理快报108卷16期163101 (2016);作者:R. M.斯特劳德、T. C.洛夫乔伊、M. Falke、N. D. Bassim、G. J. Corbin、N. dell、P. Hrncirik、A. Kaeppel、M. Noack、W. Hahn、M. Rohde和O. L. Krivanek
总之,XFlash®6T-100椭圆形具有以下优点:
XFlash应用的建议区域®6 t - 100椭圆是:
TEM和STEM中的EDS高端元素分析,包括像差校正电子显微镜,主要针对: