XFlash 6 t - 100椭圆形

用于STEM的高采集角EDS系统

面积大,收集角度高,无窗EDS探测器椭圆形,直径100mm2SDD为每个合适的极片几何形状精心定制。独特的外形和先进的细线设计允许在非常特定的改造条件下优化采集几何形状。

在STEM中,x射线采集的立体角度可以达到0.7 sr,起飞角超过13°,提供了原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]。

[1]室温多铁材料中磁性离子分配的直接原子尺度测定(开放)

科学报告7,(2017)文章编号:1737;作者:L.基尼等。

[2]用x射线光谱学鉴定单个杂原子(开放)

应用物理快报108卷16期163101 (2016);作者:R. M.斯特劳德、T. C.洛夫乔伊、M. Falke、N. D. Bassim、G. J. Corbin、N. dell、P. Hrncirik、A. Kaeppel、M. Noack、W. Hahn、M. Rohde和O. L. Krivanek

总之,XFlash®6T-100椭圆形具有以下优点:

  • 100毫米2区,没有窗户
  • 固体收集角度高达0.7 sr,适应不同
  • 起飞角度可达13.4°,适应性不同
  • 特高压兼容
  • X-ray-tight快门
  • 互不干扰的冷却系统
  • 优异的低能耗性能,需要分析轻元素和重叠L-, M-,…在低能区的高Z元素线
  • 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件

XFlash应用的建议区域®6 t - 100椭圆是:

TEM和STEM中的EDS高端元素分析,包括像差校正电子显微镜,主要针对:

  • 原子分辨率
  • 高速数据采集
  • 微量元素分析