XFlash 6 t-30

用于常规透射电镜和校正像差的中等尺寸SDD
XFlash 6T-30探测器

的XFlash®6T-30是具有最佳能量分辨率的S/TEM探测器。由于其直径小(细线设计),它特别适合于EDS探测器空间小的情况,特别是对旧tem的EDS改进。的多功能XFlash®6T-30满足所有分析人员的需求,从优秀的几何条件(最佳起飞和最佳可能的立体角)到分析性能(轻元素或高计数率分析)。

总之,XFlash®6T-30具有以下优点:

  • 优异的能量分辨率(Mn Kα为126 eV, C Kα为51 eV, F Kα为60 eV)
  • 其他可用的分辨率是129ev在Mn Kα
  • 极高的脉冲加载能力
  • 优良的轻元素和低能量性能(元素范围Be - Am)
  • 标准焊接波纹管
  • 没有产生振动的冷却系统
  • 上电后立即可用
  • 不需维护的操作
  • 低运营成本
  • 尺寸小,包括细线技术手指
  • 低体重
  • 无窗口的版本可要求

XFlash的建议应用领域®6 t-30是:

  • 所有类型的TEM和STEM的EDS分析,包括校正像差的电子显微镜