Electron Microscope Analyzers

Quantax EBSD

轴上TKD无与伦比的性能

Best Spatial Resolution

Low Probe Current Requirements

Quantax EBSD EFLASHHD BRUKER

强调

1.5
nm
Effective spatial resolution
独特的轴上TKD提供最佳样品检测器几何形状,导致无与伦比的性能
2
NA
Maximum probe current required
轴上TKD可实现低探针电流测量,而不会影响速度和数据质量
125,000
pps
超快获取FSE,BSE和STEM图像
高对比度和低噪声成像在数秒内通过无与伦比的Argus成像系统启用

具有无与伦比的空间分辨率的纳米材料的方向映射必威手机客户端

Quantax EBSD系统,其流行擎天柱2detector head, is the best available solution for analyzing nanomaterials in the SEM. Here is why:

  • offers the best spatial resolution down to 1.5 nm
  • 以低探头电流运行,而不会损害速度和/或数据质量
  • 使用浸入镜头技术以超高分辨率的SEM分辨率模式下的唯一TKD解决方案
  • 全自动,内置ARGUSimaging system

好处

Why Do I Need On-axis TKD?

我们要感谢亚伦·林登伯格(Aaron Lindenberg)和他在斯坦福大学(Stanford University)的小组,允许发布此类似DF的GE-SB-TE(GST)薄膜样本的图像!
  • 实现最好的空间分辨率
  • For orientation and phase mapping in an SEM
  • For fast mapping without compromising data quality/integrity
  • 为了获取具有出色对比度和分辨率的图像,以令人难以置信的速度和全自动信号优化
  • For analyzing beam sensitive materials using low probe currents.

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资源与出版物