利用独特的轴上探测器在扫描电子显微镜中同时获取晶体和元素信息
最快的TKD和EDS同步测量
力量的独特XFlash®FlatQUAD能谱探测器具有高达1.1 sr的超高立体角，可与OPTIMUS 2以无与伦比的空间分辨率和速度从电子透明样品中获取包含化学和晶体方向数据的地图。
使用为电子透明样品设计的方法可以进行精确的EDS定量分析:
- Cliff-Lorimer-factor方法
- Zeta-factor-method
结合EDS和TKD测量非常适合于描述含有多种晶体相的鲜为人知的样品，例如沉淀和/或夹杂物。合并后的数据集可用于离线相位识别和再分析，具有很高的效率精灵2’s的索引能力高达60,000模式/秒。
使用XFlash FlatQUAD EDS检测器(上)、OPTIMUS 2检测器头(下)和TKD样品支架(中)同时进行轴上TKD和EDS映射的检测器-样品几何结构
XFlash FlatQUAD EDS探测器，其四个SDD芯片布局和直方图显示其立体角变化与SDD芯片与样品之间的距离
从氧化色散强化(ODS)钢样品中获得的bf样图像显示铁素体晶粒基体中的氧化钛颗粒(亮灰色)和富钇氧化钛颗粒(深灰色)。图像采集用时3s，探头电流为5 nA，加速电压为20 kV。
模式质量图表示以272点/秒的速度与EDS超图同时获取的TKD图。该测量的吞吐量计数率约为1 Mcps。
显示Ti分布(归一化原子%)的EDS超图
显示Y分布的EDS超图(归一化质量%)
离线相ID和再分析后的终相分布图(TKD结果)。铁素体基体为红色，氧化钛颗粒为绿色，富钇氧化钛颗粒为蓝色。
取向分布图(IPFz)和每个晶体相对应的着色方案