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Optimus 2.

增强的TKD探测器头

强调

Bruker的行业领先的TKD解决方案变得更好!

我们的新增强TKD解决方案通过添加多个新的硬件选项,附件和软件功能来构建现有的轴TKD的无与伦比的性能。最重要的变化是Optimus 2探测器头的发布,这是与DTU Nanolab在丹麦的持续合作的结果。其新的成像功能及其改进的设计与新的和创新的软件功能相结合,将使:

  • 原位实验的新分析能力
  • 达到比以前更好的空间分辨率
  • 卓越的数据质量和数据完整性
  • 改善用户体验
  • 针对某些应用的主要提升生产率
Optimus 2的主要特征
  • Optimus Vue屏幕在其中心为明亮场(BF)的SI二极管(BF) - 机会成像
  • 用于最小化与电子束的干扰的先进合金
  • 屏幕有源层结构中的额外新薄膜,用于提高信号质量
  • 优化的屏幕框架设计,提高用户体验
  • Optimus 2将继续与标准TKD屏幕(没有中心二极管)

好处

源于SEM结合EDS和TKD映射

Optimus Vue的中心二极管提供明亮的领域(BF) - 机会成像功能,而在轴上的TKD映射位置铺平道路,用于新的应用可能性,进一步提高纳米材料和纳米结构时的整体系统性能。必威手机客户端

新词干在擎天大小的SEM能力的主要优势

  • 改善空间分辨率通过Optimus Vue的中心二极管,它提供了在获取TKD地图之前优化光束焦点和散光设置的理想条件。
  • 近实时可视化电子透明样品在使用新的ESPRIT TRM特征时在SEM的原位实验中进行时间解决的测量。
  • 改进了数据完整性- 高质量和高细节的BF样图像是ESPRIT漂移特征使用的图像相关算法的理想输入数据。漂移校正精度的所得增益对于TKD地图特别有利,即使只是几十纳米的光束或样本漂移也将在地图中产生可见的伪像。
  • 生产力提升- 使用新的ESPRIT Maxyield特征,可以使用类似的BF样图像,随后使用作为掩模的掩模,以便在稀疏样品上有效地映射,如纳米粒子或纳米棒。
  • 方便,效率和成功在新的ESPRIT电池TKD(全浸没镜头TKD)功能的校准过程中,首次使用全浸透镜模式的TKD映射,也知道某些电子列的超高分辨率(UHR)模式。
图片是亚伦林登贝格和他在美国斯坦福大学的小组的礼貌

独特的能力

支持研究和技术进步的独特功能

Argus全部看到神话巨人回来了

Optimus 2检测器头部设计有内置Argus系统,可提供SEM成像功能。在其前沿的三个Si二极管和其屏幕中心的一个Si二极管,它提供了DF样成像,BF样成像,而在TKD映射位置,速度成像高达125,000像素/秒和全自动信号。优化。
在轴上的TKD地图

查看纳米结构样本中的每个细节

最近近期采用纳米技术引发了扫描电子显微镜(SEM)中最高分辨率的竞争。实现最终空间分辨率的一种方法使用磁浸透镜。
Xflash Flatquad TKD.

最快的同时TKD和EDS测量

Bruker独特的Xflash Bandquad EDS检测器具有高达1.1 SR的超高直角,可以同时使用Optimus 2来获取包含来自电子透明样品的含有化学和分别具有无与伦比的空间分辨率和速度的地图。

了解您的样本

Hysitron PicoIndenter PI 89设计用于与Emotus 2头的EFLASH EFLASH EBLASD探测器的无缝集成,以在原位实验期间提供理想的条件。

添加多个维度以了解您的样本

Optimus 2具有其新的Optimus Vue屏幕和新的ESPRIT TRM功能代表完美的,必须具有用于原位加热和电子透明样品电气偏置实验的工具的组合。