Optimus TKD检测器头
布鲁克的高性能EflashEBSD现在可以使用Optimus配置检测器系列™TKD检测器头是专门为最佳样品检测器几何形状而设计的，用于SEM中的轴上传输Kikuchi衍射分析（TKD）。探测器头不仅以无与伦比的灵敏度获取了Kikuchi模式，甚至提供了对SAED的访问权限（选定的区域电子衍射）如图。
至少2 nm空间分辨率的方向映射
与垂直标准设置相比，样品下方的水平磷光屏幕位置具有两个主要优势：
- 一个数量级强信号
- 最低可能的吞噬投影失真
明显更强的信号允许用小光圈获得取向图，从而可以改善空间分辨率。各种材料的结果表明使用高端Fe-SEM必威手机客户端时的有效空间分辨率为2 nm或更高。在低加速度电压下工作至5 kV也是可能的。这有助于降低平均自由路径，从而增加柯库奇衍射信号的产率。当分析薄且“轻巧”样品时，这非常有用。造成扭曲通过GNOMONIC投影是EBSD中的一个常见问题，在使用垂直磷光器屏幕时尤其影响TKD分析。
但是，Optimus™TKD允许将磷光屏幕的中心与图案中心完全匹配，从而实现理想的几何条件，甚至比标准EBSD几何形状所提供的更好。由此产生的kikuchi模式具有最小的扭曲，可显着改善频段检测和随后的索引精度。
阿格斯™FSE成像系统
擎天柱™TKD配备了阿格斯™成像系统可以使辉煌的黑暗领域（如成像，细节）降低到纳米尺度，实际上将您的SEM转换为“低kv tem”。阿格斯™可用于在变形材料中显示单个位错和位错壁网络。必威手机客户端像图像一样的黑暗场显示了有关边界平面位置和倾斜度的3D信息。
使用方便
每个现有Eflash检测器可以配备擎天柱™TKD探测器头。训练有素的用户可以在不到10-15分钟的时间内轻松完成交换。这可以在需要时轻松快速地在EBSD和TKD模式之间进行快速切换。擎天柱™TKD具有Bruker的高级碰撞保护系统：在发生碰撞的情况下，检测器立即以10 mm/s的速度缩回，这大大降低了任何损坏的风险。擎天柱™跆拳道探测器头部无缝地与力量的TKD Professional Toolkit for SEM including TKD sample holder, the XFlash®用于同时进行TKD/EDS测量和ESPRIT 2分析软件套件的EDS检测器系列。
