陨石样品是罕见的,因此珍贵,优选通过非破坏性方法分析。当原始表面的微观研究是研究的重点时,严格排除诸如切割,研磨,抛光和碳涂层的SEM的EDS分析的常见样品制备步骤。
传统的EDS检测器在这种情况下面临限制,特别是当需要高空间分辨率时。由于矿物学的陨石标本是非导电的并且地形,充电和阴影效果是主要挑战。
为了克服这些限制,可以使用最先进的解决方案Xflash.®Batrquad.。这种独特的环形EDS检测器直接放在类似于BSE探测器的样品上方。其特征在于对低X射线产率的极高灵敏度,最小化任何阴影效果,因此是用于绘制粗糙的非涂覆样本的完美工具,例如陨石。
我们调查了MOCS Meteorite,于1982年2月2日的匈牙利历史悠久的秋季,由维也纳的自然历史博物馆(NHM)提供。应用的应用Xflash.®Batrquad.由于其高分辨率映射即使在深腔内的高分辨率映射的能力,宇宙材料的演变为光。(Salge等,Emas 2018 - Microbeam分析在地球科学,布里斯托尔,英国,第16页)