Quantax Flatquad.
x射线探测的最大效率
无与伦比的吞吐量
分析敏感样品
强调
1
纳米
空间分辨率
纳米尺度分辨率在SEM中
> 1.1
SR.
最高的立体角度
实心角表示所生成的X射线的几何收集效率
2,400
kcps.
吞吐量
比传统的EDS探测器快4倍
Quantax Flatquad - 传统的SDDS达到限制
Quantax Flatquad是基于革命性的EDS微量分析系统Xflash.®Batrquad.。该环形四通道硅漂移检测器插入SEM极靴和样品之间，在EDS中实现最大立体角。结合了Esprit.分析软件套件，Quantax Flatquad提供了无与伦比的映射性能，即使是最困难的样本。
- 非常快的绘图，只使用适度的束电流
- 分析极低光束电流（<10Pa）的光束敏感材料，例如，必威手机客户端生物或半导体样品
- 调查样品的地形，避免遮蔽效果
- 低kV和最高倍率下纳米粒子和纳米结构分析
- 薄样本的测量（例如Tem Lamellae.）SEM中具有低X射线产量的其他标本。
好处
最大化您的效率
Bruker的独特环形设计Xflash.®Batrquad.探测器及其在SEM杆片和样品之间的位置导致无与伦比的实线角，直接转化为更快的测量。和我们一起Esprit.软件套件，Quantax Flatquad提供了理想的分析仪器。最低光束电流或具有高地形的样品的敏感样品。
这Xflash.®Batrquad.也可以将SEM或FIB转换为低压分析阀杆，以更及时且具有成本效益的方式以最高的空间和光谱分辨率分析电子透明样品。
从电子透明样品中获取更多信息，组合Xflash®Flatquad配有Eflash EBSD探测器的改装擎天柱头。
