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关于
职业生涯
电子显微镜分析仪

Quantax Flatquad.

X射线检测的最大效率

无与伦比的吞吐量

分析敏感样品

xflash_flatquad_drop_shadow_4 + 5_cut_out.

强调

1
纳米
空间分辨率
纳米尺度分辨率在SEM中
> 1.1
SR.
最高的立体角度
实心角表示所生成的X射线的几何收集效率
2,400.
kcps.
吞吐量
比传统的EDS探测器快4倍

Quantax Flatquad - 传统的SDDS达到限制

Quantax Flatquad是基于革命性的EDS微量分析系统Xflash.®平坦的。该环形四通道硅漂移检测器插入SEM极靴和样品之间,在EDS中实现最大立体角。结合了Esprit.Analytical Sublate Suite,Suldax Flatquad提供了无与伦比的映射性能,即使是最困难的样本。

  • 极快的绘图,只需要适度的束流
  • 分析极低光束电流的光束敏感材料(<10Pa),例如,必威手机客户端生物或半导体样品
  • 调查样品的地形,避免遮蔽效果
  • 低kV和最高倍率下纳米颗粒和纳米结构分析
  • 测量薄样本(例如Tem Lamellae.)和其他具有低X射线产量的样本。

好处

最大化您的效率

Bruker的独特环形设计Xflash.®平坦的探测器及其在SEM杆片和样品之间的位置导致无与伦比的实线角,直接转化为更快的测量。和我们一起Esprit.软件套件,Quantax Flatquad提供了理想的分析仪器。最低光束电流或具有高地形样品的敏感样品。

Xflash.®平坦的也可以将SEM或FIB变成低压分析杆,以更及时且具有成本高效的方式分析最高空间和光谱分辨率的电子透明样品。

要从电子透明样品中获取更多信息,请结合Xflash®Flatquad配有Eflash EBSD探测器的改装擎天柱头。