Quantax Micro-XRF

新的快速阶段专门为SEM设计，使大面积映射超过毫米（mm）到厘米（cm）尺度。这将消除与低放大率映射相关的潜在的SEM X射线强度变化伪像，从而在以前不可能的不间断的庄园中增强元素和矿物学信息。

观察样本内的元素变化的能力对于了解地质过程和矿石沉积创世纪非常重要。在SEM上包含微XRF的双源系统使得元素X射线映射在大面积上，显示PPM刻度上的主要，次要和还有痕量元素。

Micro-XRF与SEM的组合使得能够在多个刻度下分析样品，从厘米（cm）到毫米（mm）到微米（μm）和下面的孤立系统。因此，通过将Micro-XRF添加到SEM，将SEM转换为双源系统，这意味着有2个激励源，电子束和光子束。源源可以单独使用，或同时使用，生成将使用相同的EDS检测器测量的样本X射线。

我们展示了来自钻石纽伦兹金伯利特（南非，Kaapvaal Craton）的Mantle Garnet-Spinel Peridotite的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表示样品中存在的某些矿物质。

使用SEM-XRF的大面积映射（Hypermaps）可以在具有形貌的样本上执行。也就是说，需要最小的样品制备，并且可以直接分析样品而不会进行任何劣化。这在对土壤的分析中特别相关，其中任何形式的样品制剂如安装和抛光或碳涂层，都可以改变样品。

由于X射线可能通过物质，X射线荧光（XRF）允许确定层厚度。在SEM上使用Micro-XRF，层分分析（厚度和组成）在微米刻度下具有空间分辨率可行。层分析基于使用原子基础参数（FP）的量化。