地幔岩学和钻石的来源
此处显示的是来自含钻石的纽兰兹金伯利岩（南非，卡普瓦尔·克拉顿）的地幔石榴石橄榄岩的SEM-XRF元素图。各个元素的强度表明样品中存在某些矿物质；例如CA（绿色） - Clinopyroxene；CR（蓝色） - 铬铁矿；Al（黄色） - 石榴石和K（橙色），用于交代。使用SEM上的Microxrf。样品约为3 cm x 2 cm，并被分析为单个框架。每个像素的全光谱允许进一步的离线处理，例如添加元素，从地图中提取光谱，地图或自动相位。
Micro-XRF数据具有识别样品中高能X射线线以及痕量元素的优点。Micro-XRF是一个小点分析（约35微米），尽管比电子束大。相互作用量大于电子束的相互作用，并且是元素和样品矩阵依赖性的。因此，2D元素图可能会产生电子束和X射线生成的图之间的差异。较低的光谱背景可以检测到电子束无法使用的痕量元素。样本准备要求不同；例如，没有充电效果，因此没有样品涂层。此外，由于信息深度，不需要高质量的抛光剂。此外，只要具有平面表面，就可以分析粗糙的样品。量化可以是无标准的或基于标准的。
带有Xtrace（分析参数：50 kV的管电压RH，阳极电流600 µA，Pixel速度为25 µm）的大面积X射线图（30 mm x 20 mm）从纽兰兹金伯利特（Newlands kimberlite）的钻石叶绿石（分析参数：管电压RH）获取。混合元素强度图（CA - 绿色，FE - 天蓝色，K-橙色，ti-紫色）。
带有Xtrace（分析参数：50 kV的管电压RH，阳极电流600 µA，Pixel Spacing 25 µm）的大面积X射线图（30 mm x 20 mm）从纽兰兹金伯利特（Newlands kimberlite）的钻石叶绿石（分析参数：管电压RH）获取。从左到右的顶行：Mn（红色），CA（绿色），CR（蓝色）；从左到右的中间排：fe（天蓝色），si（紫色），al（黄色）；从左到右的底行：K（橙色），MN（浅绿色），Ti（深紫色）。
带有Xtrace（分析参数：50 kV的管电压RH，阳极电流600 µA，Pixel Spacing 25 µm）的大面积X射线图（30 mm x 20 mm）从纽兰兹金伯利特（Newlands kimberlite）的钻石叶绿石（分析参数：管电压RH）获取。从左到右的顶行：F1总X射线强度图（灰色），ni（绿色）;从左到右的底行：Cu（蓝色），S（黄色）。