ESPRIT成像
多种成像选项-从简单的图像采集到全特征图像处理
带有扫描预览窗口的图像采集模式
ESPRIT扫描
图像采集软件与外部扫描系统配套的仪器:
- 外部电子束控制，模式切换，以及SEM, STEM和EPMA的图像采集
- io扫描和SEMLink的驱动程序
- 可选模拟信号源(SE、BSE、HAADF等)的高质量、高分辨率数字图像
- 快速预览模式的扫描区域选择和波束调整
- 独立选择采集时间，图像分辨率和扫描方式
- 像素、线和帧平均，包括电力线同步(选项)
- 自动和手动亮度，对比度和伽马校正
- 显示柱状图
- 标记和图形图例显示，包括配置选项
ESPRIT ColorScan
x射线彩色增强图像采集:
- 即时彩色图像没有元素预选或预置x射线范围
- 在高分辨率电子图像中，通过不同颜色和阴影直观地辨别相位
- 令人印象深刻的拓扑和化学对比的结合
- 容易搜索点和感兴趣的区域
- 突出显示样品表面上的粒子、伪影或独特区域
- 寻找均匀区域以获得精确的分析结果
- 进步扫描，提高图像质量
- 最适合高速XFlash®探测器系统
经过处理和标注的图像
ESPRIT的愿景
数字图像处理:
- 可配置的图像滤波器的选择，包括二值化和反演
- 亮度、对比度和伽马校正
- 假彩色显示
- 黑白和彩色图像处理
- 为标记、图例和用户定义的图形覆盖图像
- 交互式长度，面积和角度测量与数据表示在图形覆盖
- 多级图像处理，包括内部图像存储和多个“撤销”功能
- 图像导入和导出在所有常见的图形格式
- Twain导出和窗口剪贴板支持
ESPRIT立体视觉
三维图像可视化与测量:
- 基于立体图像对的三维表面拓扑重建
- 可自由选择倾斜轴，包括非对称倾斜，方便标准sem的图像采集
- 自适应图像比较模式(对比、差异图像和全帧相关)
- 单点深度计算、线剖面、多点操作
- 强大的3D结果可视化网格，阴影，人工纹理，或位移矢量
- 完全可重新处理的项目数据库，包括原始数据、结果和设置
ESPRIT DriftCorr
- 通过将当前图像与开始测量时获取的图像进行比较，来补偿扫描样本区域的图像位移
- 在采集过程中自动校正外部扫描发生器
- 显示电流和最大偏移值以及比较过程的质量
- 当超过最大校正值时停止测量
- 结合图像采集功能和选项MultiPoint, Objects, LineScan, Map和HyperMap工作