Micro-XRF光谱仪

M1米斯特拉尔

小型台式微型xrf光谱仪

散装材料和涂料

有成本效益的行动

M1米斯特拉尔Micro-XRF

突出了

100µm
最小光斑大小
甚至可以分辨出电路板的精细结构细节
2 nm-60µm
多元素层分析的厚度范围
根据ASTM B568和ISO 3497,具有挑战性的层厚度和成分分析;包括具有重复元素的层;可编程多点分析
8 ppm
聚合物中Cu、Zn或Zn中Pb的检测限
焊料、塑料、金属合金中RoHS筛选、微量元素分析;自动校正材料厚度,精确测量PCB元件的点定位

一种小型多用途台式微型xrf光谱仪

关键因素

  • 灵活的仪器
  • 操作方便
  • 人性化的触摸屏界面
  • 获取原始数据

M1 MISTRAL是一款紧凑的台式能量色散微xrf分析仪,用于多用途。M1 MISTRAL易于操作,专为工业环境中快速和经济高效的操作而设计,可提供有关贵金属合金等材料的元素组成和层厚以及多层结构的准确信息。必威东盟体育必威手机客户端

散装和涂层根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497进行分析。通过Rh靶激发,可以实现对化学沉积磷酸镍(NiP)涂层的高精度分析。

所有珠宝合金、铂族金属或银的确切成分可以在一分钟内测定出来。结果可以以重量%或克拉为单位输出。

分析可以执行无标准或基于标准,以达到更高的准确性水平。每种应用都有各种各样的校准。

从定位样本到打印结果在一个报告-完整的工作流程集成在软件中。同时,原始数据的开放访问也保证了完全的透明度。

好处

M1 MISTRAL的好处

各种各样的元素都可以用非破坏性方法测量。不需要样品准备。即使是复杂的分析任务也可以通过可编程的XYZ阶段实现自动化,只需单击鼠标即可开始。超快速检测系统提供快速的结果。

M1 MISTRAL配备了一个大面积硅漂移检测器(SDD),具有卓越的计数率性能和能量分辨率,将检测限制降到ppm水平。高性能探测器,数字脉冲处理和优化的几何条件导致高效的x射线检测,因此快速和准确的分析结果。

M1 MISTRAL易于使用和免维护的设计和强大的分析软件套件甚至允许只接受过简短培训的人员操作。不需要消耗品或气体。坚固的结构确保了最高的稳定性和免维护操作。

规范

技术细节

  • 具有W或Rh靶的高性能微聚焦管
Max。样本大小及重量
  • 48 x49x20厘米³
  • 高达1.8公斤

探测器

  • Peltier冷却,30 mm²高性能硅漂移探测器,在Mn Ka <150 eV能量分辨率
马克西。阶段旅游范围
  • 可达200毫米x 175毫米x 80毫米(适用于带有自动对焦和EasyLoad功能的电动XYZ台)

元素范围广

  • 默认值:从Ti (Z=22) W目标
  • 可选:从Al (Z=13)与Rh靶
仪器尺寸(宽×深×高)
  • 550mm × 680mm × 430mm
x光光斑大小
  • 准直器变换器为0.1毫米至1.5毫米

软件

XSpect Pro分析软件套件

  • 仪表控制、数据采集与管理
  • 用户可选择的触摸屏界面
  • 舞台控制和编程
  • 金属多层膜的厚度和成分分析
  • 定量成分分析,无标准和基于标准的实证模型
  • 具有自动峰值识别功能的频谱仪
  • 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
  • 报告生成器
  • 结果存档