XRF是如何工作的?

样品被x射线轰击。这会激发样品产生x射线荧光。x射线将单个电子“发射”出元素的原子，主要是发射出内部的原子壳层K和l。由此产生的空位再次被高能量壳层的电子填补。

这些电子的多余能量随后以x射线荧光辐射的形式发射出来。这种辐射是每一种元素的特征，就像指纹一样，并且独立于原子的化学键。辐射强度与样品中元素的浓度成正比。

在波长色散x射线荧光(WDXRF)的情况下，在最佳的测量条件下对每个元素进行分析。

为此，根据浓度范围设置单独的测量参数组合，以防止线重叠:

x射线源和初级辐射过滤器保证样品中的每个元素都得到最佳激发。

口罩会屏蔽掉不需要的信号，例如来自样品杯的信号。

真空密封将样品室与测角器室分离。在加载过程中，密封关闭，测角器室保持在真空状态。因此，只有小体积的样品室需要抽空固体或用氦冲洗液体。在液体的测量过程中，真空密封保持关闭，以保护组件，防止泄漏，安全的氦和提高稳定性。

准直器用于提高分辨率。

晶体的分析起着至关重要的作用。它们将多频率荧光光谱分解成元素的特定波长。这种信号分离对WDXRF的高分辨率和高灵敏度至关重要。

最后，探测器:用于检测轻元素的是比例计数器，用于检测重元素的是闪烁计数器。这两个探测器都非常适合各自的能量范围。

S2 PUMA和HighSense^TM该技术使用50 w端窗x射线管直接激发样品中的x射线荧光。

通过设置x射线管的高压，选择滤料，选择能量范围。

带有多通道分析仪的硅漂移检测器检测x射线荧光辐射并积累计数，形成样品的强度与能谱。

分析具有低能荧光的较轻元素，可以用氦冲洗样品室，也可以用真空泵抽真空。