红外显微镜

Lumos II

Lumos II是一种独立的FT-IR显微镜,可在失败分析,材料研究和粒子分析中擅长。它紧凑,精确,特点是FPA技术超快化学成像。

异常IR。

精彩的视觉效果。超快成像。

班纳卢莫斯二世

强调

简易有效精确

FT-IR显微镜和成像强力所

缺乏卢比II |产品介绍
Lumos II产品经理介绍了Lumos II及其特征。
我们的声明

红外显微镜是它的本意。

更多的样品制备空间。更多的化学成像速度。更多的ATR、透射和反射显微镜的性能。这就是我们所说的真正的游戏规则改变者——没有讨论。

特征

特征

Lumos II技术特点:

  • 标准TE-MCT探测器
  • 即插即用:无液氮,无干燥空气吹扫
  • 可选的FPA成像探测器
  • 新型PermaSure+校准技术
  • 全电动和自动化硬件
  • 容纳高达40毫米高度的样品
  • 组件寿命长,包括激光器
  • 惰性高湿度(ZnSe光学元件)
  • 独立设计,小脚印
  • 低功耗

Lumos II提供:

  • 软件引导测量的易用性
  • 高清光谱和视觉数据
  • 高红外灵敏度,无需液氮
  • 子微米范围内的视觉分辨率
  • 超快FPA成像性能
  • FPA成像ATR /传输/反射
  • 轻松进入样品台
  • 符合CGMP和FDA 21 CFR P11
  • 自动OQ/PQ/药典试验
  • 随时升级

应用程序

  • 失效分析
  • 粒子与表面分析
  • 必威东盟体育工业制造业
  • 法医学
  • 生命科学
  • 聚合物和塑料
  • 环境科学
  • 中西药品
什么是卢莫斯II

任何地方/任何人ftir显微镜

我们认为,对于每个用户提供高级技术,无论其技能水平如何,它都很快。福利FT-IR成像和显微镜太大了,无法通过繁琐的硬件和软件限制访问。

从一开始,LUMOS II就意味着让FT-IR成像更快、更容易、更准确、更可靠——甚至更有趣。当然,这要求我们包括新的和改进的内容经过验证的技术

这就是为什么我们为用户定制了Lumos II,其软件和用户界面。初学者获得完美的结果在专家们保持全面仪器控制的同时。

出色的FT-IR显微镜

高级μ-ATR FT-IR功能

归结起来就是:更好的仪器。更好的结果。

无论是透射、反射还是反射衰减总反射率(ATR),LUMOS II始终是正确的选择。但它最大的优势是通过FPA技术增强ATR显微镜。这使得LUMOS II成为故障分析和产品开发的通用工具。

长话短说,其ATR功能无与伦比。时期不要满足于使用不可靠的手动ATR附件–获得最好的。去拿卢莫斯。

可伸缩晶体由高精度压电电动机控制并集成到镜头中。这允许您享受清晰的样本视图,而您的测量仍然是您想要的位置。

成熟技术

令人信服的创新

应用的耐久性和功率。

对于我们来说,它是一种自然的,可以将最好的技术传递给我们的客户。当然,这也适用于Lumos II。

Rocksolid.TM值干涉仪确保恒定的性能,而现代电子设备确保机械精度和低能耗。同时,软件监控仪器的有效性,并始终确保功能正确。

应用程序

LUMOS II应用视频

ATR-FT-IR显微镜涂覆缺陷分析。
通过FT-IR显微镜进行PCB失效分析。
通过FT-IR显微镜进行纺织品和羊毛质量控制。
钻石宝石通过FT-IR显微镜分析。
通过红外显微镜进行颗粒根本原因分析。
通过宏观ATR成像进行多层膜和层压板分析。
用FT-IR显微镜分析类金刚石膜的涂层厚度。
ATR-FT-IR分析的复合多层聚合物。

推荐书

推荐:微塑料

由MartinLöder和Christian Laforsch教授领导的团队在德国维护了领先的微塑料分析实验室之一。

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OPUS发行版8.7 | LUMOS II | 2021年第3季度

新功能:基于新的自适应K-均值聚类函数的高性能化学图像生成

这一新功能是我们众所周知的聚类分析功能的下一个逻辑开发步骤。自适应K均值聚类功能基于一种新算法,可在成像或映射结果中无监督、自主地确定光谱方差。

  • 由于算法可以自身预测所有包括的化学类别,不再需要预测或耗时的化学类别的搜索。
  • 这一主要功能对于大型数据集中未知样品或小型结构的所有类型的化学成像和分布分析都很重要。
  • 与Lumos II分析和评估一起尽可能简单,保护您的宝贵时间和神经。

新功能:“群集ID”功能,用于识别3D光谱数据中的类

我们新的群集ID功能可以使用OPUS功能识别成像和映射数据中的群集:库中的频谱搜索、快速比较或身份测试。

  • 易于确定颗粒、层压板层、药片组分和其他不均匀材料的分类样品组分的化学特性。必威手机客户端
  • 提供了关于所有分析结构的数量、尺寸和特性的可靠和全面的统计报告,并将颗粒和技术清洁度分析提升到一个新的自主水平。

更新功能:“找到粒子”功能现在包含一种新颖的粒子检测方法

经过验证的“查找粒子”软件现在可以应用于两个方面:视觉图像和红外图像。通过此更新功能,您可以根据LUMOS II测量的化学图像进行粒子检测。

  • 虽然用于低对比度结构和灰白色过滤器膜上的灰白/透明颗粒/纤维的粒子识别可能是乏味的,但是基于化学IR图像的POSTRUN颗粒测定允许您从您的成像或映射确定粒子的数量和大小结果。
  • 通过查找粒子函数与Lumos II一起,您将永远不会错过任何细节 - 既不是视觉也不在IR范围内。
通过新的自适应k-均值聚类功能,完全自动创建化学图像。
在氧化铝过滤器上自动识别颗粒。粒子立即按大小和标识分类为新的“群集ID”。

更多信息

FT-IR显微镜文献室

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