新的专利攻击AFM-IR模式是一种令人兴奋的新功能,可为化学成像以及单层测量敏感性提供10 nm的空间分辨率,并将纳米尔的能力扩展到更广泛的样品。挖掘AFM-IR保留了纳米技术的易用性,因此很容易,快速实现最佳的测量分辨率。
可在Nanoir2/2-S和Nanoir1平台上使用。
使用户能够在AFM图像上选择任何点(或一系列点)以获得局部过渡温度,即TG和TM,图像通过过渡温度显微镜(TTM)的模式对整个样品表面的过渡温度进行图像,并收集图样品表面显示了整个表面(STHM)的相对导热率或相对温度的变化。所有人可用Anasys纳米系统作为选择第三方AFM的补充。