材料科学的3D XRM
这是显微镜学的一个新领域
Bruker 3D x射线显微镜(XRM)将微型计算机断层扫描(micro-ct)硬件与专业软件结合成一个完整的显微可视化解决方案。从微分辨率的工作台到纳米分辨率的地板站立仪器，Bruker XRM解决方案提供易用性和功率的完美平衡。
从测量地质标本的孔隙度到药物片上多重涂层的厚度或芯片和板级电路互连结构，XRM允许快速多尺度分析。XRM的非破坏性特性允许组件完整性验证，将制造技术(如增材制造)的QC提升到一个新的水平。
Bruker的软件为技术人员和新手研究人员提供了简单的按钮界面，并为寻求推动他们的样本和技术边界的专家提供了特殊的深度。利用最新的GPU驱动算法，可以在短时间内从大数据集获得结果。所包含的分析包允许定性的可视化和定量的回归。
必威手机客户端材料科学XRM规范
规范 |
SKYSCAN 1275 |
1272年SKYSCAN互补金属氧化物半导体 |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 |
外形尺寸(w x d x h, mm) |
1040 x 665 x 400 |
尺寸:1160 x 520 x 330 |
尺寸:1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
重量(不选配电子设备) |
170公斤 |
150公斤 |
400公斤 |
1500公斤 |
源 |
40 - 100千伏 |
40 - 100千伏 |
40 - 130千伏 |
20 - 160千伏 |
探测器 |
3mp平板面板 |
11议员CCD 16像素CCD 16像素CMOS |
6mp平板面板 |
6mp平板面板 11mp大型CCD 11 Mp中CCD 8 Mp高分辨率CCD |
最大样本量(直径、高度) |
96毫米，120毫米 |
75毫米，80毫米 |
300毫米，500毫米 |
300毫米，400毫米 |
最小分辨率(体素，空间) |
<4µm， <8µm |
µm <0.45，µm <5 |
<3µm， <6µm |
60 nm， <500 nm |
测量、重建和分析软件 |
包括 |
包括 |
包括 |
包括 |
