半导体解决方案

X射线缺陷检查

X射线缺陷检查

Bruker缺陷检测系统使用X射线衍射成像(XRDI)来检测单晶底物上的晶体缺陷,例如裂纹,滑移,脱位和微管。我们的XRDI检查技术无需使用蚀刻酸。这些系统广泛用于检测Si晶片的裂缝,从而导致晶圆破裂并提高其他高价值基板(例如CDTE和SIC)的产量和质量。

支持

我们能帮你什么吗?

Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术,并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后,这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载

我们训练有素的支持工程师,应用程序科学家和主题专家团队全力致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训来最大化您的生产率。betway手机客户端下载

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