半导体解决方案

复合半导体的X射线计量学

提供X射线计量工具,用于对Epi层膜的QC监视,并为各种半导体膜和晶圆的详细R&D分析提供详细的R&D分析。

复合半导体的X射线计量学

布鲁克(Bruker)提供X射线计量学工具,用于QC对Epi层膜的监视,以及针对各种半导体膜和Wafers的R&D分析。我们提供专门为生产环境的挑战性需求而设计的系统用于开发的应用研究工具支持当前和未来的计量需求。

支持

我们能帮你什么吗?

Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术,并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后,这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载

我们训练有素的支持工程师,应用程序科学家和主题专家团队全力致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训来最大化您的生产率。betway手机客户端下载