光学CMM机测量紧密公差

μcm

μCMM，第一纯度光学CMM机器用于测量高精度的极其紧密的公差。用户将优势与触觉坐标测量技术和光学表面测量技术相结合，并仅使用一个传感器测量组件的尺寸，位置，形状和粗糙度。光学CMM相互关系提供多个光学3D测量的高几何精度，从而能够测量大量的小表面细节，并精确地确定这些单独测量相对于彼此的位置。可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料，PCD，CFRP，陶瓷，铬，硅。必威东盟体育必威手机客户端简单的操作由单键解决方案，自动化和符合人体工程学控制元件（如专门设计的控制器）实现。带线性驱动的空气轴使耐磨使用和高精度，快速测量。

E._{UNI：TR：ODS，MPE}=（0.8 + L / 600）μm
E._{UNIZ：St：ODS，MPE}=（0.15 + L / 50）μm

在线演示

让我们讨论你的申请
几乎！

预订您的在线演示

技术规格|μcm

测量原理	基于聚焦变化的非接触式，光学，三维包括。垂直焦点探测技术
测量点数	单测量：X：1720，Y：1720，x x y：295万多测量：高达500万
定位量（x x y x z）	310 mm x 310 mm x 310 mm = 29 791 000mm³
轴的旅行速度	高达100 mm / s
同轴照明	LED同轴照明（颜色），高功率，电子控制
系统监控	9温度传感器（精度：±0.1 k），3个振动传感器，内部电流和电压监控，包括长期伐木，可检索
3D精度10360-8^{给出的值基于ISO 10360-8和VDI 2617}	E._{UNI：TR：ODS，MPE}=（0.8 + L / 600）μm（L为mm）^{基于ISO 10360-8的轴精度。} E._{UNIZ：St：ODS，MPE}=（0.15 + L / 50）μm（l为mm）^{有效用于单次测量，高度步骤测量}

客观的		3000wd8.	1900WD30.	1500WD23	1500WD70.	800WD17.	800WD37.	400WD19	150WD11.
工作距离	毫米	8.8	30.	23.5	64.4	17.5	37.	19.	11.
横向测量范围（X，Y）（x x y）	毫米 mm².	5.26 27.64	3.29 10.8	2.63 6.91	2.63 6.91	1.32 1.71	1.32 1.71	0.66 0.43	0.26 0.06

有关更多信息，请下载产品传单或向我们发送请求。

μCMM提供

直观的可用性，专为多个用户设计

可测量表面的光谱很大程度上是具有材料无关的，并且包括行业中常用的所有材料和复合材料，从遮罩到抛光或镜像组件。必威手机客户端

密集的非接触和物质无关的测量

Alicona测量系统提供了一种表面的功能以及组合成一个系统的坐标测量系统。因此，您的质量保证变得更具成本效益，更容易执行和更有效地提供结果。

无耐磨和有效的使用

所有组件，包括移动轴，无需接触。轴承线性驱动轴使耐磨操作和高度，测量快。这使得μcm是永久性生产的理想选择。

新软件metmax.

来自“我如何衡量？”“我衡量了什么？”

焦点变化技术

阿利科纳测量系统基于聚焦变化技术，并结合了表面粗糙度测量装置的功能和形式测量系统。每个阿利科纳测量仪器都是一个表面测量装置，表面粗糙度测量系统，用于几何公差和微坐标测量系统的3D测量系统。焦点变化技术结合了具有垂直扫描的光学系统的小深度深度，以提供来自焦点变化的地形和颜色信息。该系统的主要组件是一种精密光学器件，包含可配备不同的目标的各种镜头系统，允许使用不同的分辨率进行测量。