示踪剂:文化遗产的手持式XRF的基准

按需会议-54分钟

艺术与保护网络研讨会系列 - 第三部分

布鲁克示踪剂Handheld-XRF是文化遗产研究中元素分析的最佳便携式分析工具。这示踪剂5是Bruker系列中的最新产品,积极地使用了世界。它代表了比早期模型的重大进步,其技术改进通过改进的操作来推动出色的元素灵敏度,并增强了软件集成,从而提供了高级分析工具。该仪器专为使用和应用的灵活性而设计,可以在桌面支架中完全手持式手持,或者在实验室,画廊或现场位置使用三脚架。灵活性扩展到分析模式,具有在完全交互模式下运行的能力,在这种模式下,使用Bruker的ARTAX软件平台可以询问来自不同对象的原始光谱。在适当的情况下,此模式可以扩展到专门为文化遗产应用程序设计的工厂安装的矩阵匹配的经验校准,或者为用户提供和自定义校准的功能。

该网络研讨会将向您介绍Tracer平台的基础知识,包括关键的硬件功能和软件操作,将示踪剂定位为科学家和其他从事文化遗产的专业人员的便携式元素分析的基准解决方案。我们还将介绍布鲁克的经验工厂校准,包括专门为手持式XRF考古学和博物馆研究的分析以及方法(例如Eastcal PC软件平台),允许用户自定义校准以进行特定分析。网络研讨会将提供有关示踪剂5目前如何在世界各地文化遗产对象分析方面使用专家的见解。

谁应该参加

  • 文化遗产的研究人员,专业人士和学生进行XRF分析
  • 考古学家或艺术科学家在文化遗产地点工作
  • 那些有兴趣扩大对XRF对工件分析的理解的人

演讲者

奈杰尔·凯利博士

高级市场应用科学家Bruker Nano Analytics

安德鲁·李

应用科学家Bruker Nano Analytics