电子显微镜分析

QUANTAX FlatQUAD

x射线探测的最大效率

无与伦比的吞吐量

敏感的样品分析

XFlash_FlatQUAD_drop_shadow_4 + 5 _cut_out

洛马斯destacado

1
纳米
空间分辨率
SEM的纳米尺度分辨率
> 1.1
最高的立体角
立体角表示生成的x射线的几何收集效率
2,400
kcps
吞吐量
比传统的EDS探测器快4倍

QUANTAX FlatQUAD -传统sdd达到限制的地方

QUANTAX FlatQUAD是基于EDS微分析系统的革命性产品XFlash®FlatQUAD.该环形四通道硅漂移检测器插入SEM极片和样品之间,在EDS中获得最大的立体角。结合思捷环球分析软件套件,QUANTAX FlatQUAD提供无与伦比的映射性能,甚至对最困难的样本。

  • 非常快的绘图,只使用适度的束电流
  • 在极低束电流(< 10 pA)下分析束敏材料,例如生物必威手机客户端或半导体样品
  • 根据地形对样品进行调查,避免阴影影响
  • 分析纳米粒子和纳米结构在低kV和最高放大
  • 测量薄样品(例如TEM薄片)和其他低x射线产率的样品。

锻炼耐力

最大限度地提高您的效率

布鲁克独特的环形设计XFlash®FlatQUAD探测器和它在SEM极片和样品之间的位置导致一个不匹配的实心角度,直接转换为更快的测量。一起思捷环球在软件套件中,QUANTAX FlatQUAD提供了理想的仪器来分析例如在最低束电流下的敏感样品或在高地形下的样品。

XFlash®FlatQUAD还可以将您的SEM或FIB转换为低压分析STEM,以更高的空间和光谱分辨率,更及时和成本效益的方式分析电子透明样品。

要从您的电子透明样品中获得更多信息,请结合XFlash®FlatQUAD与eFlash EBSD探测器改装擎天柱头。