无与伦比的吞吐量
敏感的样品分析
QUANTAX FlatQUAD是基于EDS微分析系统的革命性产品XFlash®FlatQUAD.该环形四通道硅漂移检测器插入SEM极片和样品之间,在EDS中获得最大的立体角。结合思捷环球分析软件套件,QUANTAX FlatQUAD提供无与伦比的映射性能,甚至对最困难的样本。
布鲁克独特的环形设计XFlash®FlatQUAD探测器和它在SEM极片和样品之间的位置导致一个不匹配的实心角度,直接转换为更快的测量。一起思捷环球在软件套件中,QUANTAX FlatQUAD提供了理想的仪器来分析例如在最低束电流下的敏感样品或在高地形下的样品。
的XFlash®FlatQUAD还可以将您的SEM或FIB转换为低压分析STEM,以更高的空间和光谱分辨率,更及时和成本效益的方式分析电子透明样品。
要从您的电子透明样品中获得更多信息,请结合XFlash®FlatQUAD与eFlash EBSD探测器改装擎天柱头。