布鲁克3D x射线显微镜(XRM)结合微型计算机断层扫描(micro-ct)硬件和专门的软件成为一个完整的显微可视化解决方案。布鲁克XRM解决方案从微分辨率的工作台到纳米分辨率的地板站立仪器,提供了易用性和功率的完美平衡。
从测量地质样品的孔隙度到药片上多重涂层的厚度或电路的片上和板级互连结构,XRM可以进行快速的多尺度分析。XRM的非破坏性特性允许组件完整性验证,将制造技术(如增材制造)的QC提升到一个新水平。
Bruker的软件为技术人员和新研究人员提供了简单的按钮界面,并为寻求突破样品和技术边界的专家提供了非凡的深度。重建是通过最新的GPU驱动算法来完成的,可以在很短的时间内提供来自大型数据集的结果。所包含的分析包允许定性的可视化和定量的回归。
规范 |
SKYSCAN 1275 |
1272年SKYSCAN互补金属氧化物半导体 |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 |
外形尺寸(宽×深×高,mm) |
尺寸:1040 x 665 x 400 |
尺寸(宽×深×深 |
尺寸:1250 x 820 x 815 |
1800 x 950 x 1680 |
重量(没有可选的电子设备) |
170公斤 |
150公斤 |
400公斤 |
1500公斤 |
源 |
40 - 100千伏 |
40 - 100千伏 |
40 - 130千伏 |
20 - 160千伏 |
探测器 |
3mp平板面板 |
11议员CCD 16像素CCD 16像素CMOS |
6mp平板 |
6mp平板 11mp大型CCD 11mp中位CCD 8mp高分辨率CCD |
最大样本尺寸(直径、高度) |
96毫米,120毫米 |
75毫米,80毫米 |
300mm, 500mm |
300mm, 400mm |
最小分辨率(体素,空间) |
<4 μ m, <8 μ m |
<0.45 μ m, <5 μ m |
<3 μ m, <6 μ m |
60 nm, <500 nm |
测量、重建和分析软件 |
包括 |
包括 |
包括 |
包括 |