化合物半导体的x射线测量
Bruker提供x射线测量工具，用于外延层薄膜的QC监控和广泛的半导体薄膜和晶圆的详细研发分析。我们提供专门为具有挑战性的生产环境的需求设计的系统，以及多应用研究工具的开发，以支持当前和未来的计量需求。
支持
我们如何提供帮助?
Bruker与我们的客户合作解决现实世界的应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种伙伴关系通过培训和扩展服务继续下去，即使在工具售出之后很长时间。betway手机客户端下载
我们训练有素的团队支持工程师，应用科学家和主题专家完全致力于最大化您的生产力与系统服务和升级，以及应用支持和培训。betway手机客户端下载