尺寸精度和表面饰面测量
新:InfiniteFocusg6
InfiniteFocusG6是一种准确,快速和通用的光学3D测量仪器,用于µM和sub-mm范围内的公差。组件是基于区域的,具有高分辨率,独立于尺寸,材料,几何形状,重量和表面饰面。许多经过验证的新功能结合了粗糙度测量系统(RA,RQ,RZ/SA,SQ,SZ)的功能与坐标测量机的特性。
InfiniteFocus是制造的理想选择。坚固的焦点变化技术和振动不敏感的设计可确保高分辨率和可重复的结果,甚至直接在机床旁边。
全新的InfiniteFocusg6代表:
- 无与伦比的测量绩效 -
- 开创性的用户体验 -
- 未来的技术 -
- 智能设计 -
许多经过验证的新功能结合了A的功能
具有坐标测量机的特性的粗糙度测量系统:
5轴对量学:
从3轴扩展允许测量原本难以或无法访问的几何形状。高精度的倾斜和旋转轴可以在整个测得的对象上测量GD&T和粗糙度参数。
SmartFlash&Real3D:
集成的SmartFlash技术可确保对光滑,反射性和高度抛光的表面进行高分辨率测量。Real3D将单个测量结果转换为完整的360°数据集。
Metmax用户软件:
用户在组件的CAD模型中指定测量值。与虚拟测量模拟相结合的数字双胞胎可以实现测量仪器的安全操作。
垂直焦点探测:
最新技术实现了组件的光学,横向探测。用户测量孔和垂直侧面(> 90°)。
InfiniteFocusg6的测量示例:
光滑的表面
得益于高级焦点变化,用户用陡峭的侧翼,不同的反射和结构性粗糙度来测量工件。集成的SmartFlash技术可确保对光滑,反射性和高度抛光表面的高分辨率测量。
骨螺钉
通过应用Real3D技术,用户可以实现组件(360°)的完整形式测量。在这里,显示了与各自的CAD数据集的直接比较。另外,可以测量粗糙度。
技术规格InfiniteFocusg6
测量原理 | 非接触,光学,三维 技术: 高级焦点变化(SmartFlash 2.0), 垂直焦点探测, 真正的3D |
客观放大 | 3000 WD8 | 1900 WD30 | 800 WD37(2) | 800 WD17 | 400 WD30(2) | 400 WD19 | 150 WD11 | 80 WD4 | |
工作距离 | 毫米 | 8.8 | 30 | 37 | 17.5 | 30 | 19 | 11 | 4.5 |
横向测量范围(x,y) | 毫米 | 5.3 | 3.8 | 1.6 | 1.6 | 0.8 | 0.8 | 0.3 | 0.16 |
测量点距离 | µm | 2.88 | 1.77 | 0.72 | 0.72 | 0.36 | 0.36 | 0.14 | 0.07 |
垂直分辨率 | nm | 2300 | 250 | 130 | 50 | 80 | 30 | 15 | 10 |
最小可测量的粗糙度(RA) | µm | N.A. | N.A. | 0.7 | 0.18 | 0.24 | 0.12 | 0.05 | 0.03 |
最小可衡量的粗糙度(SA) | µm | N.A. | N.A. | 0.35 | 0.09 | 0.12 | 0.06 | 0.025 | 0.015 |
最小可测量的半径 | µm | 20 | 12 | 5 | 5 | 3 | 3 | 2 | 1 |
InfiniteFocus系列的更多测量系统
InfiniteFocus G5Plus
技术规格InfiniteFocus G5Plus
测量原理 | 非接触,光学,三维,基于焦点变化。垂直焦点探测技术 |
定位量(x x y x z) | 200 mm x 200 mm x 100 mm = 4000000 mm3 |
客观放大 | 2.5倍 | 4x | 10x HX | 10倍 | 20x HX | 20倍 | 50x | 100x | |
工作距离 | 毫米 | 8.8 | 30 | 37 | 17.5 | 30 | 19 | 11 | 4.5 |
横向测量范围(x,y) (x x y) |
毫米 mm² |
5.63 31.7 |
3.97 15.76 |
1.62 2.62 |
1.62 2.62 |
0.7 0.49 |
0.81 0.66 |
0.32 0.10 |
0.16 0.03 |
垂直分辨率 | nm | 2300 | 450 | 250 | 100 | 80 | 50 | 20 | 10 |
高度步骤准确性(1毫米) | % | N.A. | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 |
最大限度。可测量的区域 | mm² | 40000 | 40000 | 40000 | 40000 | 24780 | 24780 | 3965 | 990 |
最小可测量的粗糙度(RA) | µm | 7 | 1.35 | 0.75 | 0.3 | 0.24 | 0.15 | 0.06 | 0.03 |
最小可衡量的粗糙度(SA) | µm | 3.5 | 0.675 | 0.375 | 0.15 | 0.12 | 0.075 | 0.03 | 0.015 |
最小可测量的半径 | µm | 20 | 12 | 5 | 5 | 3 | 3 | 2 | 1 |
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拾取和地点 - 组件的自动放置和测量
测量解决方案选择和地点在英国的2019年高级工程展上展出。因此,光学测量系统InfiniteFocus通过协作机器人进行扩展,以自动选择,位置,测量和排序(OK/ NOT OK)组件。观看视频并查看自动测量解决方案。
技术 - 焦点变化和垂直焦点探测
用一个系统测量形式和粗糙度?对具有垂直表面的组件的横向探测最多90?Bruker Alicona光学3D计量学是可能的。从我们的研发总监Franz Helmli和销售经理Urban Muraus了解有关我们的核心技术的更多信息。