XFlash 6 t - 100椭圆形
用于STEM的高采集角EDS系统
此区域面积大，采集角度高，无窗EDS100毫米椭圆形探测器2SDD为每个合适的极片几何形状精心定制。独特的形状和最先进的细线设计允许优化采集几何形状非常特定的改装条件。
在STEM中，x射线采集的立体角在超过13°起飞角时达到了0.7 sr，提供了原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]。
［1］室温多铁材料中磁离子分配的直接原子尺度测定(开放)
科学报告7，(2017)文章编号:1737;作者:L. Keeney等。
[２]单个杂原子的x射线光谱鉴定(开放)
应用物理学报第108卷第16期，163101 (2016);作者:R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde和O. L. Krivanek
总之，XFlash®6T-100椭圆形提供以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角度高达0.7 sr，适应变化
- 起飞角度高达13.4°，适应变化
- 特高压兼容
- X-ray-tight快门
- 互不干扰的冷却系统
- 优异的低能性能，需要分析轻元素和重叠L-， M-，…在低能区的高Z元素线
- 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件
XFlash的建议应用领域®6 t - 100椭圆是:
通过TEM和STEM的EDS高端元素分析，包括像差校正电子显微镜，旨在:
- 原子分辨率
- 高速数据采集
- 微量元素分析