擎天柱2

增强的TKD检测器头

伪造的侯爵夫人

Bruker的行业领先TKD解决方案变得更好!

我们的新的增强TKD解决方案通过添加多个新硬件选项,配件和软件功能来建立现有轴上TKD的无与伦比性能。最重要的变化是释放Optimus 2检测器头,这是与丹麦DTU Nanolab进行的持续合作的结果。它的新成像功能及其改进的设计以及新的创新软件功能将启用:

  • new analytical capabilities for in-situ experiments
  • reaching better spatial resolution than before
  • 卓越的数据质量和数据完整性
  • improved user experience
  • 某些应用的生产率的重大提高
Key Features of OPTIMUS 2
  • Optimus vue屏幕在其明亮场中心(BF)样成像中心带有SI二极管
  • 高级合金,以最大程度地减少电子束的干扰
  • Additional new thin film in the screen active layer structure for improved signal quality
  • 优化的屏幕框架设计可改善用户体验
  • Optimus 2将继续与标准TKD屏幕兼容(没有中心二极管)

分区

SEM中的SEM与EDS和TKD映射结合

Optimus Vue的中心二极管提供了明亮的字段(BF)式成像功能,而在轴上TKD映射位置则为新的应用程序可能性铺平了道路,并在表征纳米材料和纳米结构时进一步改善了整体系统性能。必威手机客户端

新茎的主要好处在Optimus Vue的SEM功能中

  • 改进的空间分辨率通过Optimus Vue的中心二极管,在获取TKD地图之前,它提供了优化光束焦点和散光设置的理想条件。
  • 接近实时可视化of electron transparent samples during in-situ experiments in the SEM using the new ESPRIT TRM feature for Time Resolved Measurements.
  • 提高数据完整性- 高质量和高细节类似BF的图像是ESPRIT漂移校正功能使用的图像相关算法中的理想输入数据。所得的漂移校正精度的增益将特别有益于TKD地图,即使只有几十纳米的光束或样品漂移也会在地图中产生可见的伪影。
  • 生产力提升- 可以使用新的Esprit Maxyield特征对BF样图像进行二进制,然后用作掩盖稀疏样品(如纳米颗粒或纳米棒)上的感兴趣区域的掩模。
  • 便利,效率和成功在校准过程的新精神FIL TKD (Full Immersion Lens TKD) feature enabling, for the first time ever, TKD mapping using the full immersion lens mode, also know as ultra-high resolution (UHR) mode, of certain electron columns.
图像由亚伦·林登伯格(Aaron Lindenberg)和他在美国斯坦福大学的小组提供

独特的功能

支持研究和技术进步的独特功能

类似暗场的图像 -  Zoom-argus-ebsd

Argus全景神话巨人回来了

Optimus 2探测器头已经设计了内置的Argus系统,可提供SEM成像功能。它的前边缘有三个SI二极管,并在其屏幕的中央有一个Si二极管,它在TKD映射位置时提供了类似DF的成像,类似BF的成像,以高达125,000像素/秒的速度进行成像和全自动信号优化。
轴上TKD地图

查看纳米结构样品中的每个细节

最近的大规模采用纳米技术引发了扫描电子显微镜(SEM)最高分辨率的种族。实现最终空间分辨率的一种方法使用磁性浸入镜头。
Xflash Flatquad TKD

最快的同时进行TKD和EDS测量

布鲁克’s unique XFlash FlatQUAD EDS detector with its ultra-high solid angle of up to 1.1 sr can be used simultaneously with OPTIMUS 2 for the acquisition of maps containing chemical and respectively crystal orientation data from electron transparent samples with unmatched spatial resolution and speed.
Bruker集成的Optimus PI89原位拉伸测试TKD EBSD

更好地了解您的样本

Hysitron Picoindenter PI 89设计用于与Efflash EBSD检测器进行了无缝集成,该探测器与Optimus 2头改名为在原位实验期间提供理想的条件。
原位加热的电气偏见-TKD-EBSD

添加多个维度来理解您的样本

擎天柱2with its new OPTIMUS Vue screen and the new ESPRIT TRM feature represent the perfect, must-have combination of tools for in-situ heating and electrical biasing experiments on electron transparent samples.