尺寸精度和表面光洁度测量

InfiniteFocusG5 +

InfiniteFocus是一款高精度、快速、灵活的光学三维测量系统。只需一个传感器，用户就可以验证尺寸精度和测量其组件的表面粗糙度。基于的技术重点变化可测量表面的范围几乎是无限的。垂直聚焦探测是聚焦变差法的延伸，它可以横向探测垂直曲面。组件跟踪测量精度高，具有高垂直分辨率和高重复性。Focus-Variation的稳健测量原理与隔振硬件相结合，可以实现大型和重型部件的形状和粗糙度测量。InfiniteFocus的所有轴都配备了高精度的编码器，确保精确的舞台运动。与一个自动化界面在生产中，InfiniteFocus也被应用于全自动测量。

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技术规格

测量原理	基于聚焦变化的非接触式，光学，三维包括。垂直焦点探测技术
定位量（x x y x z）	200毫米x 200 mm x 100 mm = 4000000 mm3

客观放大		2.5倍	4x.	10x HX.	10x.	20x HX.	20 x	50X.	100倍
工作距离	毫米	8.8	30.	37.	17.5	30.	19.	11.	4.5
横向测量范围(X、Y) （x x y）	毫米 mm².	5.63 31.7	3.97 15.76	1.62 2.62	1.62 2.62	0．7 0.49	0.81 0.66	0.32 0.10	0.16 0.03
垂直分辨率	纳米	2300	450	250.	One hundred.	80	50.	20.	10.
高度步进精度（1毫米）	％	厦门市。	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05
最大限度。可衡量的区域	mm².	40000	40000	40000	40000	24780	24780	3965	990
最小可测量粗糙度(Ra)	μm.	7.	1.35	０．７５	0．3	0.24	0.15	0.06	0.03
最小可测量粗糙度(Sa)	μm.	3.5	0.675	0.375	0.15	0.12	0.075	0.03	0.015
闵。可测量的半径	μm.	20.	12.	5.	5.	3.	3.	2	1

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测点密度高

高达5亿个测量点确保了精确细致的测量，微米和亚微米范围的公差以及大的工作距离。测量点密度高重点变化使运营商能够在高测量卷上获得始终如一的高横向和垂直分辨率。

新:测量超过90°的侧面

垂直聚焦探测是焦点变化技术的延伸，因此是纯光学测量技术。它允许在测量过程中直接测量具有大于90°和微孔的斜率和微孔。

用REAL3D全表测量

使用real3d.，用户从众多角度测量表面。单个测量将自动合并到完整的3D数据集中。高精度和校准的旋转和倾斜轴确保在整个测量对象上自动化，可重复和可追溯测量。

视频

选择和地点与无限焦点

测量解决方案挑选在英国2019年先进工程展上展出。因此，光学测量系统InfiniteFocus被扩展为一个协作机器人，可以在生产中自动拾取、放置、测量和排序(OK/ not OK)组件。观看视频并看看自动测量解决方案。

更多关于挑选的地方

焦点变化技术

阿利科纳测量系统基于聚焦变化技术，并结合了表面粗糙度测量装置的功能和形式测量系统。每个阿利科纳测量仪器都是一个表面测量装置，表面粗糙度测量系统，用于几何公差和微坐标测量系统的3D测量系统．Focus-Variation技术结合了具有垂直扫描的光学系统的小深度深度，以提供来自焦点变化的地形和颜色信息．该系统的主要组件是一种精密光学器件，包含可配备不同的目标的各种镜头系统，允许使用不同的分辨率进行测量。