量化WDS
扫描电镜波长色散光谱法
出色的光谱分辨率
增强分析准确性和精度
Punti Salienti.
〜4
EV.
fwhm for si-kα
通过数量级的优异能量分辨率
<100
PPM.
多种元素的检测限
高痕量元素精度和精度
> 900
cps / nA
C-Kα的计数率，具有80埃多层
对低能x射线的高灵敏度
通过电子探针微分析仪的优点来补充您的SEM
- SEM的量程WDS（WDX）由XSense波长色散光谱仪组成，在所有并行束WDS系统中产生最佳分辨率。由于平行光束设计，大的直角导致与基于罗兰圆的WDS光谱仪相比的低能量X射线的信号强度更高。
- 通过抑制背景伪影的独特二次光学器件，进一步增强了WDS特征的高信噪比。
- 配备最好的放牧发射光学和最多六个分析仪晶体，量化WDS具有优异的70 EV向上的低能量X射线的灵敏度。
- 巧妙的自动光学对准系统和独特的压力控制比例计数器确保精确且可重复的结果。
- 灵活适配WDS或EDS端口。
优惠
扫描电镜上的WDS是高要求分析应用的完美解决方案
- 解决常见的EDS峰值重叠，例如TA-W-SI，PB-S或MO-S
- 探索利息要素的低能量X射线线系列（L，M，N）
- 检查具有低加速电压的样品，以确保最小的渗透深度
- 由于高固直角获得最高的CPS / Na，使光元件在整个浓度范围内能够从DE到F中进行调查
- 测定微量元素浓度远低于an的检测限度eds.
- 在不需要导电涂层的情况下在低真空下测量
- 采用独特的压力控制比例计数器，节省分析测量时间
- 确保精确量化的光谱数据的空间精度
- 通过同时WDS和EDS分析保存采集时间，其中包含每个探测器的益处以组合量化
