X射线荧光(XRF)

XRF如何工作?

用X射线轰击样品。这激发样品以产生X射线荧光。X射线“拍摄”元素的原子中的单独电子,主要从内原子壳K和L中出来。由此产生的空位通过来自较高能量壳体再次填充。

然后以X射线荧光辐射的形式发射这些电子的过量能量。这种辐射是每个元素的特征,如指纹和独立于原子的化学键。辐射的强度与样品中元素的浓度成比例。

与S8虎的波长分散X射线荧光(WDXRF)

在波长分散X射线荧光(WDXRF)的情况下,在最佳测量条件下分析每个元件。

为此目的,可以对应于浓度范围设定测量参数的各个组合,并防止线路重叠:

X射线源和初级辐射滤波器保证样本中的每个元素都是最佳激励的。

掩模减少了不需要的信号,例如,来自样品杯。

真空密封件将样品室与焦仪室分开。在装载期间,密封件闭合,测芯计室保持真空。因此,只需要少量的样品室的样品室,或用氦气冲洗液体。在测量液体期间,在溢出的情况下,真空密封件停留以保护部件,保护氦气,并提高稳定性。

准直器用于提高分辨率。

分析仪晶体发挥至关重要的作用。它们将多个频率荧光光谱分解为元素的特定波长。这种信号分离对于WDXRF的出色分辨率和敏感性至关重要。

最后,探测器:用于检测光元素,使用比例计数器和较重元件闪烁计数器。两个探测器都适合于各个能量范围。

S2 PUMA的HIGHSENSE™光束路径

S2彪马具有高度TM值技术使用50-W端窗X射线管在样品中直接激发X射线荧光。

通过为X射线管设定高电压并选择过滤器材料,选择能量范围。

具有多通道分析仪的硅漂移检测器检测X射线荧光辐射,并累积计数以形成样品的强度与能量谱。

通过用氦气冲洗样品室或通过用真空泵向撤离样品室来分析具有低能量荧光的较轻元件。