Bruker Nano Analytics礼物:

多尺度内非破坏性微XRF扫描分析:对矿石矿物学,岩化和微铝评估的影响

按需会议 - 60分钟

使用微X射线荧光分析地质样品

地质样本的微分析是常见的实践,并提供了各种尺度的有价值的信息,例如在矿物勘探和过程矿物学中。探索过程和随后的冶金理解发生在范围内因多种数量级而异。该链中的一个重要联系是从现场收集的样品过渡到实验室分析。Micro-XRF桥接这些具有挑战性的观测量表,允许微分析解释易于与现场样本相关(即视觉上),并使能够选择合适的样品以进行更详细的微型分析,这通常是昂贵的,时间是昂贵的,并且时间是昂贵的和时间- 耗费。

在本网络研讨会中,我们将使用使用地理分析技术来实现多尺度,多模式和多维信息的几何方法来介绍含量富含钴样品的示例。这项研究的重点是分析钻芯部分及其解释,从使用Micro-XRF作为整体工作流程的关键组成部分,从刻度和降级的观点上进行了缩减和降级视图。最终结果是关于商业矿物学的新观点,结合了有关矿石和脉管矿物的解放的详细信息。

谁应该参加?

  • 从商业和研究的角度来看

钻头核心的元素超图,重点关注感兴趣的元素,即Fe,Co,AS和Cu
来自同一钻头的矿物学信息突出显示硫化钴属晶状体的晶粒尺寸信息

演讲者

安德鲁·孟席斯(Andrew Menzies)博士

高级应用科学家地质和采矿,布鲁克·纳米分析

Alan R. Butcher教授

地貌和必威手机客户端应用矿物学,芬兰地质调查局