ESRデジタルアップグレード

他他にはないアップグレードグレード，ESR分态计计性能ををををことができことができことができことができことができことができことができことができことができことができことができことができことができことができことができことができますことができ伴い伴い伴い伴いグレードグレードグレードはははおよび様がグレード先端のはおよびおよび様グレードグレード先端のはおよび満たす装备を维持できるよう，独自に开启さます。

现在のアップグレードでは，大幅な改善を実现します。

• 分享能
• 操作品
• 安克
• 许容値
• 感度

Elexsys.

改良された32ビット振幅分类能，高速デジタイザー，高速スキャンのデータ取り込み

デジタル·ロックインとして，spuは，1回のスキャン，同じレシーバーゲインで大小声信号両両に，比类のます検出またデジタイズ提供ます。また，spuは，过渡な取得ののの高度デジタイザーて，また，超高速扫引のの高度スキャンドライバーとしてもしし。
ロックイン：

• 最大5种までの高度を同时検出
• 吸着·分享到
• 

信号管理装置（SPU）

高度デジタイザー

• サンプリングレート125MHz.
• 64 k在板上平台
• 时间领域で16000データポイント

高度スキャン

• 扫引范囲200g
• 最大16kポイント
  

最大256000ポイントの磁场磁场磁场能

狭い扫引范囲もに扫引磁场のますますています。

XEPRソフトウェア

新しいXEPRの机械

• Xeprapi为Python.^®スクリプトインターフェース
• 高精度ダブルインテグレーションツール
• 使用Spincount™ソフトウェアモジュール
• スピントラップデータ解析のためのspinfit™ソフトウェアモジュール
  

XEPR Spincount™

• 标准试料が不成なスピンカウント
• 一回の测定
• 高精度の结果结果力量と理
• 容易な作品，正确な法
  

XEPR SpinFit™

• スピントラップスピントラップデータベースからからののラジカル付ののの
• 実験スペクトルに対するラジカル付加入のフィッティング
• SPINCOUNT™ををたた付ラジカルの浓度测定

emx.

• 新开発ののシグナルチャンネルとフィールドフィールド，イーサネット経由のインターフェイス
• 新しいデジタルデバイスは，フィールド分类と信号振幅分类
• 信号チャネル
• 1回のスキャンで，同じレシーバーゲインで，大声信号と非常小さい信号をし，正しくデジタル化
• 霍尔控制器：フィールド分类の向上，256000ポイント
• 狭い狭い扫引范囲ででも広い范囲范囲で，非常に高度磁场分享をを

Xenonソフトウェア

特

• Linuxベースのソフトウェアパッケージの容易な取り回
• 综合されたデータデータ测定测定定理ソフトウェア
• 自动扫引分能设定
• 饱和解析実験のためののフィッティング
• 高精度ダブルインテグレーションツール
• 标准试料を使使用しない销量的esr使用スピンカウントソフトウェアモジュール
• スピントラップデータ解析用Spinfittmソフトウェアソフトウェア
• Elexsys装饰とののののデータデータ
  

XEPR Spincount™

• 标准试料が不成なスピンカウント
• 一回の测定
• 高精度の结果结果力量と理
• 容易な作品，正确な法

XEPR SpinFit™

• スピントラップスピントラップデータベースからからののラジカル付ののの
• 実験スペクトルに対するラジカル付加入のフィッティング
• SPINCOUNT™ををたた付ラジカルの浓度测定

ご利用中のemx / elexsys静止またはespシステムを次のレベルアップグレードするは，当社のアップグレードののかをしてください。

PatternJet-II.

Patternjet-iの高性能をに，patternjet-IIでは各チャンネルのを拡拡，より多种のパルスととを実现，再プログラミングのオーバーヘッドありしませませませませませませませませませませ

• 最大时间分享1 ns
• チャネルあたり1024パルス
• 再プログラミングが不成なダイレクトフェーズサイクル
• 再プログラミングのオーバーヘッドがなく，直接2dデータ测定が可

specjet-III

高层平均化学とタイムの声信号管理ををわせspecjet-iiiはft-esrに理念的なデジタイザーです。时间领域ででeseSeS実験最适最适最适にとのにの実験のと收集ににののとと收集にをを用してい。

• 时间分子能0.5 ns
• 14ビットの振幅分享能
• リアルタイムデジタル信号管理
• リアルタイムfft设定モード
  

高度データ测定

Patternjet-IIとspecjet-IIIのの合わせ，これまでにない実験效率柔软性をします。

ダイレクト位相サイクル

SJ-III / PJ-IIの组み合わせでは，位相サイクルに伴うオーバーヘッドが取り除かれました。これまで10秒かかっていた16ステップの位相サイクルの2パルスESEEMスペクトルを0.8秒で取得できるようになりました。

マルチスライスデータ测定

SJ-III / PJ-IIは，二次元実験のスライスを个别に取得するのではなく，复数のスライスを同时に取得します。これまで346秒かかっていた2D HYSCORE実験が，わずか70秒で完了しました。

SpinJet -awg（オプション）

SpinJet-AwgはパルスeSRののmwパルス制御により，実験デザインと最适により，実験実験デザインと最适に新闻

各パルスの周波数号

ショットショット内ででのパルスパルス

パルスの周波数号

各パルスの位相定义

マルチチャンネルアーキテクチャー

ご利用中のelexsys静电/ os9システムを次のに引き上には，当社のアップグレードパスウェイを选択てください。