硅半导体的X射线计量
Bruker为薄膜计量提供世界上最先进和非破坏性的X射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖逻辑和存储器的全方位处理。我们提供用于识别基板缺陷和执行epi薄膜和高k电介质前端线控的专业系统，以及用于分析金属薄膜和晶圆级封装凸点的专用仪器。这些系统还常规执行硬盘驱动器材料、GaN-on-Si功率晶体管和PZT薄膜成分和相位监测的其他半导体计量应用。必威手机客户端
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我们能帮忙吗？
Bruker与我们的客户合作解决现实世界中的应用问题。我们开发新一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务持续下去，直到工具售出很久。betway手机客户端下载
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训最大限度地提高您的生产力。betway手机客户端下载