顶点80 / 80V

스펙트럼범위확장

顶点80 / 80V는선택적으로광을장착하여먼먼사전정렬된광학부품과능동으로정렬된ukerascan™간섭계를통해범위변경및보수가용이합니다。

BMS-C：브루커브루커顶点80V진공분광계에대한고정밀교환옵션BMS-C를제공합니다。

따라서진공조건에서최대4가지유형의빔스플리터의의의자동교환이가능해졌습니다。이제uv / vis에서먼ir / thz에이르는완전완전한스펙트럼범위는수동교환을위해분광계분광계벤치배출할필요필요없없할필요없없를할할없

신규：브루커는顶点80 / 80V FT-IR분광계분광계에대한새로운광대역새로운광대역광대역광대역특히반전도및가무기재료의연구및개발을새로운새로운새로운고체고체상태빔스플리터는는900cm^-1이상에서app까지까지스펙트럼스펙트럼범위를으로커버하기하기때문에추추제공제공제공을을제공제공한측정에서5cm^-1을측정측정하고매우긴파온기류중간중간중간중간중간중간중간연결연결연결중간중간을연결

광학해상도

顶点80및顶点80V표준구성은대부분의압력가스상상연구및실온측정에^{0.2cm-1보다}더나은스펙트럼분해능을합니다합니다。고급저온작업의경우，예를들어하압에서결정성반도체가스스상측정에에에^-10.06cm-1보다더나은해상도사용할수있습니다。이것은상용벤치상단ft-ir분광계를사용하여달성가장높은스펙트럼입니다해상도。가시스펙트럼범위의고해상도은은은은300,000：1의해결전력（스펙트럼해상도Δθ）으로으로파수（파수）를를줍니다。

다양성

혁신적인광학설계로가장유연하고확장가능한r＆d진공ft-ir분광계가제공제공。대피，근거리및먼먼의의의는공기수증기에매우약한특징을두려움두려움없없두려움없없없없없없없없없없없없없없없없없두려움없없없없없없없두려움수없뛰어난결과，예를들어나노과학연구영역에서10-3미만단층까지，顶点80v진공ft-ir분광계로얻을수있다。유연성에대한제한은거의없습니다。오른쪽，전면및왼쪽에있는5개의빔출구포트와광학벤치의오른쪽과후면에빔입력포트2개를사용할수있습니다。이를통해예들어，후방입력포트를이용한한，오른쪽오른쪽빔의pma 50편광변조액세서리，오른쪽전방포트광섬유커플링，왼쪽전방의볼로미터검출기，왼쪽왼쪽볼로미터의hyperion시리즈ft-ir현미경의동시연결이가능합니다。

顶点80시리즈는까다로운연구개발분야에이상에인인입니다。

顶点80 / 80V에대해자세히알아보려면알아보려면영업에에하십시오하십시오！

사용되는기술은다음특허하나하나이상으로으로됩니다：US 7034944

顶点80및顶点80V분광기는顶点시리즈의고급연구를위한입니다。혁신적인광학설계로해가장강력한벤치퍼지및진공분광기가제공및됩니다。UV / VIS（50000cm^-1）에서FIR / THZ영역（5cm-1），최고스펙트럼^-1및시간적해상도및타의추종을불허하는유연성을제공합니다。다목적顶点80 / 80V시스템은은은을모든고급연구이션에에적합한솔루션을제공제공제공

연구개발

• 진폭/위상변조분광분광사를를위한연속및단계단계스캔
• 높은높은시간적해상도의의실험위한신속하고상호분리및단계캔기술（단계단계스/빠른스/인터리브trs）
• 메타메타물질로알려진주기주기적으로주문된현미경물질의특성특성
• 해상도가0.06cm.^-1보다더나은가스분석분석을위한고해상도
• 진공ft-ir빔라인설치설치위한계측
• 효소효소촉매실험을을위한중지유동유동
• 초고진공초고진공측정챔버의외부적응
• 전극전극표면및전해질전해질의시상사를를ft-ir분광화학

제약

• 분자분자의절대구성의（VCD）
• 열분석（TG-FT-IR）을통해의약품제품의안정성휘발성함량함량특성화
• 원적원적외선영역에서에서활성제약성분의다형성

폴리머및화학

• 원적원적외선영역의의폴리머복합재에서무기필러
• 폴리머의동적및레오광학연구
• 열분석（TGA-FT-IR）에의한휘발성화합물의측정및공정의특성화
• 반응모니터링및반응제어（mir섬유프로브）
• 무기미네랄및안료식별

표면분석

• 얇고단층의검출및특성화
• 편광변조（PM-IRRAS）와결합된표면분석

재료과학

• 광학및및사재료재료특성화（창문，거울）
• 사진음향분광기（PAS）에의해어두운재료와이프로파일링의의사
• 재료의발광행동의특성화

반도체

• 실리콘웨이퍼의의의산소및및함량함량
• 품질품질관리를위한위한얕은불순물저온투투과및（PL）측정

외부액세서리，소스및검출기

顶点80 / 80v분광기에는5개의빔출구포트와개의입력포트포트장착되어，예를들어레이저및및싱크로트론광원에연결할가능성을을제공제공할할수능성을제공제공또한외부측정액세서리，소스및검출기로분광계광학장치를쉽게업그레이드할수있습니다。여기에는다음이포함포함。

• VCD및PM-IRRAS용PMA 50편광변조액세서리
• PLI II광발광모듈
• Ram II FT-라만모듈과라스코프IIIft-라만현미경
• TGA-FT-IR커플링
• 아이라이온시리즈ft-ir현미경
• 아이라이온3000 ft-ir이미징시스템
• HTS-XT높은처리량스크리닝延伸
• imac초점평면배열매크로이미징액세서리
• 외부샘플컴파트먼트xsa，대피또는제거가능
• 외부진공단단한uhv챔버적응
• 진공pl / pt / pr측정장치
• 저온액체그또는극저온액체무료극저온
• 고체및액체용mir또는nir광섬유프로브가있는광섬유커플링유닛
• 큰통합구
• 자동샘플러장치

• 외부冷杉的hg소스
• 독특한넓은범위의mir-fir검출기
• 솔리드스테이트먼ir / thz빔스플리터
• 외부배출어댑터
• 외부고성능mir소스
• 외부고성능vis소스
• 외부진공4위치검출기챔버（진공광학용）
• FIR범위범위의검출검출을위한볼로미터볼로미터
• 자동빔스플리터교환장치（BMS-C）（진공광학용）