电子显微镜分析

SEM的QUANTAX EDS

解决您的分析难题-电子能谱分析SEM, FIB和EPMA

能量色散光谱法的标准

快。多才多艺的。需求量很大。

SEM的QUANTAX EDS

母亲是żniejsze informacje

600
kcps
分析吞吐量
最佳分析速度
121
电动汽车
最高分辨率
轻元素分析的最佳能量分辨率
4
结合EDS探测器
使用多个检测器或检测器阵列实现最大吞吐量

EDS与细线技术,用于SEM, FIB和EPMA

布鲁克再次在扫描电子显微镜的能量色散光谱分析中设定了性能和功能的标准。新一代QUANTAX EDS的特点是XFlash®6探测器系列的有效面积从10到100毫米2

第6代提供硬件和软件技术,以提供最快和最可靠的结果:

节省时间,新型细线技术探测器、大面积sdd、多探测器控制和高性能脉冲处理可以更快地完成工作

节省精力-机动探测器移动和轻量化设计,使探测器处理更容易

〇提高精度最佳的能量分辨率为精确分析提供了最高质量的光谱

〇提高可靠性世界上最全面的原子数据库确保最可靠的低能量峰值识别

〇提高精度最复杂的量化算法,以及无标准和基于标准的方法的独特组合,提供了最高精度的结果

Korzyści

让您的元素分析更高效!

结合单个显微镜的适应性,无与伦比的速度和精度,导致最强大的EDS系统为任何实验室。该系统包括光谱成像,使微纳米分析不再是一个挑战。

的XFlash®探测器系列还为TEM和STEM提供了优化的解决方案,以及独特的XFlash®FlatQUAD这是一种用来回答关于坚硬样本的问题的探测器。

此外,EDS与EBSD、Micro-XRF和WDS无缝集成在一个用户界面ESPRIT,为任何SEM、FIB和EPMA提供了最全面的分析平台。

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