全税公寓
X射线探测的最高效率
无与伦比的吞吐量
分析敏感样品
纳杰瓦·尼耶泽信息中心
1.
纳米
空间分辨率
扫描电镜中的纳米级分辨率
>1.1
sr
最高立体角
立体角表示生成的X射线的几何收集效率
2,400
kcps
吞吐量
比传统EDS探测器快4倍
QUANTAX FlatQUAD-传统SDD达到极限的地方
QUANTAX FlatQUAD是基于革命性的XFlash®扁平四边形. 该环形四通道硅漂移检测器插入SEM极片和样品之间，在EDS中实现最大立体角。结合精神QUANTAX FlatQUAD分析软件套件提供了无与伦比的映射性能，即使对于最困难的样本也是如此。
- 仅使用中等束流的极快映射
- 极低束流（<10 pA）下的束敏材料分析，例如生物或半必威手机客户端导体样品
- 利用地形调查样品，避免阴影效应
- 低千伏和最高放大倍数下的纳米颗粒和纳米结构分析
- 薄样品的测量（例如：。透射电镜片层)以及其他在SEM中X射线产率较低的试样。
科兹奇
最大限度地提高效率
布鲁克独特的环形设计XFlash®扁平四边形探测器及其在SEM极片和样品之间的位置会导致不匹配的立体角，直接转化为更快的测量。连同精神QUANTAX FlatQUAD软件套件提供了理想的仪器，用于分析最低束流下的敏感样品或具有高地形的样品。
这个XFlash®扁平四边形还可以将SEM或FIB转换为低压分析杆，以更及时、更经济的方式以最高的空间和光谱分辨率分析电子透明样品。
要从电子透明样品中获得更多信息，请结合XFlash®带有eFlash EBSD探测器的FlatQUAD擎天柱头
