TXRF如何工作？

TXRF工作原理基于总反射X射线荧光分析的方法。气流X射线管会生成X射线梁，该光束通过多层单色仪将其还原为狭窄的能量范围。细光束以很小的角度撞击抛光的样品载体，并完全反映。

TXRF和常规XRF有什么区别？

像常规的能源分散剂XRFX射线束的激发技术会导致样品中的元素以其特征能量发光，从而实现元素识别。元素能量信号的大小有助于确定它们在样品中的浓度。但是，TXRF能够用完全反射的光束照亮样品的能力减少了样品基质中的吸收和散射。最终的好处包括显着增强的荧光产量，大大减少了背景噪声，因此对仅在痕量中发生的元素的敏感性更高。TXRF比常规XRF的另一个好处是它在低微晶或微克范围内测量少量样品的能力。

TXRF分析了在抛光样品载体上制备的液体，粉末和悬浮液，作为用于定量分析的薄膜或用于定性分析的微碎片。对于液体，将一些具有内标的同质样品的微量彩色放在样品载体上，用热或真空干燥，并加载到光谱仪中。首先将植物组织和土壤样品等固体干燥，磨碎，悬浮在洗涤剂溶液中，稀释和匀浆，然后将其移到载体上。可以在温和的酸溶液中消化粉末，沉积物或其他固体，也可以在移液器上移至载体之前转化为悬浮液。或者，干燥样品的微粒可以用油脂将其浸入载体上，以进行半定量分析。

痕量和小样本分析

相比常规XRF，TXRF具有测量PPB范围内元素的痕量水平。就绝对质量而言，检测极限在皮克图范围内，甚至比任何商业ICP系统都要好。

快速分析

与传统上用于痕量和较小样品元素分析的原子光谱相比，TXRF样品制剂快速，容易，并且不需要实验室排气罩用于使用危险化学物质。它同时测量包括卤化物在内的所有元素，并且分析运行和维护成本要低得多。

需要多久一次校准？

TXRF系统由工厂校准并准备使用。因此，对未知样本的日常量化仅需要添加内标元素，例如镀凝剂。

TXRF是否需要真空泵或冷却液？

不！TXRF光谱仪不需要真空泵。由于距离样品载体的距离很短，因此荧光产量非常高，空气吸收非常低。这使TXRF光谱仪变得非常紧凑且场地分析。此外，TXRF光谱仪不需要冷却液，气体或任何其他培养基。这是一个无需媒体或复杂的实验室基础架构的即插即用系统。

• ISO TS 18507：在生物学和环境分析中使用总反射X射线荧光光谱。
• ISO 20289：全反射X射线荧光分析。