XFlash 6 - 100椭圆形

高采集角无窗EDS系统用于SEM, FIB-SEM和STEM-in-SEM

面积大,采集角度高,无窗EDS带有100毫米椭圆形探测器2SDD是为SEM中特定的几何形状精心定制的。独特的形状和最先进的细线设计允许优化采集位置,在不影响SEM性能的情况下,x射线采集的立体角可达0.4 sr。

总之,XFlash®6-100椭圆形提供以下优点:

  • 100毫米2区,没有窗户
  • 固体收集角度可达0.4 sr,适应变化
  • 所有SEM类型的最大加速电压:30kev
  • 起飞角度一般为30°…35°
  • 焊接波纹管和x射线密封百叶窗(可选)
  • 互不干扰的冷却系统
  • 自动探测器收回系统
  • 优良的轻元素和低能量性能
  • 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件

XFlash的建议应用领域®6 - 100椭圆是:

SEM、FIB-SEM、STEM-in-SEM EDS高端元素分析:

  • 低kV和波束敏感样品
  • 光元素分析
  • 高空间分辨率
  • 高速数据采集