Xflash 6-30

Xflash^®6-30结合了出色的能量分辨率与30毫米的较大的实体角度²活动区域芯片。这使得检测器对于想要在EDS应用程序中使用检测器的分析师非常有吸引力，从光元素分析到快速映射以及组合的EDS和EBSD测量。Xflash^®6-30肯定会提供快速的结果。

总而言之，Xflash^®6-30提供以下优势：

• Xflash^®6-30优质能量分辨率（MNKα的123 eV，CKα的45 eV和53 eV在FKα上可用）
• 其他可用的分辨率为126 eV和129 eV，在MNKα处
• 极高的脉搏负载能力
• 出色的光元和低能量性能（BE -AM元素范围）
• 没有精心制作的振动生成冷却系统
• 电源后立即可用
• 低工作成本
• 无维护操作
• 小尺寸，包括细线技术手指
• 重量低

建议的Xflash申请领域^®6-30是：

• EDS SEM，Microprobe，Fib-Sem的系统（作为选项可用的焊接波纹管）
• EDS和快速EBSD分析与EFLASH FS结合
• 快速元素映射