Microscópio FT-IR

LUMOS II

O LUMOS II é um microscópio FTIR autónomo que se destaca na análise de falhas, pesquisa de materiais e análise de partículas. É compacto, preciso e possui imagens químicas ultrarrápidas pela tecnologia FPA.

IV excepcional.

Visual brilhante. Imagem ultrarrápida.

Banner LUMOS II

Destaques

Fácil e eficaz preciso

Uma potência em Microscopia e Imagem FT-IR

Inrodução do LUMOS II | Apresentação do produto
O gestor de produto do LUMOS II apresenta o LUMOS II e as suas características.
A nossa afirmação

Microscopia infravermelha tal como deveria ser.

Maisespaço para preparação daamostra. Maisvelocidade para imagensquímicas. Maisperfomance em microscopia ATR, transmissão e de reflexão. Isto é o que chamamos uma verdadeira revolução - sem discussão.

Características

Características

Características técnicas do LUMOS II:

  • Detector TE-MCT padrão
  • Plug & Play: sem nitrogénio líquido, sem purga de ar seco
  • Detector de imagem FPA opcional
  • Nova tecnologia de calibração PermaSure+
  • Hardware totalmente motorizado e automatizado
  • Acomoda amostras de até 40 mm de altura
  • Longa vida útil de componentes, incluindo laser
  • Inerte à elevada humidade (óptica de ZnSe)
  • Design autónomo, pequena pegada
  • Baixo consumo de energia

LUMOS II fornece:

  • Facilidade de uso com medições guiadas por software
  • Dados espectrais e visuais de alta definição
  • Alta sensibilidade ao IV sem nitrogénio líquido
  • Resolução visual na gama sub-micrómetro
  • Desempenho ultrarrápido de imagem FPA
  • Imagem FPA ATR/transmissão/reflexão
  • Fácil acesso à platina
  • Conformidade com cGMP e FDA 21 CFR p11
  • Testes automatizados de OQ/PQ/farmacopeia
  • Capacidade de upgrade a qualquer momento

Aplicativos

  • Análise de falhas
  • Análise de partículas e superfícies
  • Fabricação industrial
  • Ciência forense
  • Ciências da vida
  • Polímeros e plásticos
  • Ciência ambiental
  • Farmacêutica
O que é o LUMOS II

O microscópio FTIR para todos, em qualquer lugar

Acreditamos que já é tempo de tornar técnicas avançadas acessíveis a qualquer utilizador, independentemente do seu nível de habilidade. Os benefícios daimagem FT-IR e da microscopiasão demasiado grandes para que se restrinja o seu acesso com software e hardware complicados.

Desde o início, o LUMOS II foi feito para tornar a imagem FT-IR mais rápida, fácil, mais precisa e fiável – e ainda mais divertida. É claro que isso exigiu que incluíssemos e melhorássemos sobrea tecnologia comprovada.

É por isso que adaptamos o LUMOS II, o seu software e interface especificamente para o utilizador.Iniciantes obtêm resultados perfeitosem pouco tempo, enquanto especialistas mantêm o controlo total do instrumento.

EXCELENTE MICROSCOPIA FT-IR

Recursos superiores de μ-ATR FT-IR

Tudo se resume a isto: Melhor instrumento. Melhores resultados.

Seja transmissão, reflexão oureflexão total atenuada (ATR),o LUMOS II é sempre a escolha certa. Mas o seu maior ponto forte é a microscopia ATR melhorada pela tecnologia FPA. Isto torna LUMOS II numa ferramenta universal para análise de falhas e desenvolvimento de produtos.

Para encurtar a história, as suas capacidades ATR são insuperáveis. Ponto final. Não se contente com acessórios ATR manuais e duvidos – obtenha o melhor. Obtenha o LUMOS.

O cristal retráctil é controlado por motores piezoelétricos de alta precisão e integrado na objectiva. Isto permite que desfrute de uma visão clara da amostra enquanto a sua medição ainda decorre, exatamente onde deseja.

Tecnologia comprovada

Inovação convincente

Resistência e potência para aplicações.

Para nós é natural passar a melhor tecnologia aos nossos clientes. É claro que isso também se aplica ao LUMOS II.

O interferómetro RockSolidTMgarante desempenho constante, enquanto a electrónica modera garante precisão mecânica e baixo consumo de energia. Enquanto isso, o software monitoriza a eficácia do instrumento e assegura o correcto funcionamento.

Aplicações

LUMOS II Application Videos

Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.
PCB failure analysis by FT-IR microscopy.
Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.
Diamong gemstone analysis by FT-IR microscopy.
Particle root cause analysis performed by IR microscopy.
Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.
涂层厚度的分析,通过红外数据链路控制层microscopy.
Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.

Mais informações

Sala de Literatura de Microscópios FT-IR

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