AFM模式

Peakforce KPFM

行业领先的空间分辨率和无伪影的潜在对比度

PeakForce KPFM™通过提供最高的空间分辨率和最准确的表面电位测量方法来改善传统KPFM技术的测量性。通过新的结合,已经实现了这些改进峰值攻击®模式,扫描算法和Bruker独特的内部探测开发。

独特的是,Peakforce KPFM提供了最准确的探针到探针表面电位测量,从而实现了不同材料类型的一致测量。可以与Peakforce敲击QNM®在广泛的样品上同时提供高度相关的纳米级地形,电气和机械性能映射。Peakforce KPFM还通过在ScanSyst中运行来克服传统KPFM技术的重大使用问题®模式,使所有经验级别的用户都可以收购专家质量的数据。

Peakforce KPFM交付:

  • 最准确,可重复和敏感的工作功能测量
  • 领先的空间分辨率与无伪影电位对比度结合
  • 相关的定量纳米力学属性映射
MDMO-PCBM BOLK ORK ORAR JUNUNTINT SOLAR电池的Peakforce KPFM电位图在黑暗(下半部)和照明下,强度相当于300太阳(上半部)。(样本由蒙斯大学的菲利普·莱克莱尔(Philippe Leclere)博士提供。)