QCVELOX-E
EPIELAYER监测的最佳HRXRD性能
领先EPI制造商的首选系统
半导体底物，表层结构和加工设备晶片的常规分析的基本工具。
命运
QCVELOX-E
Bruker Qcvelox-E是领先的EPI制造商监视其生产线的首选系统。它基于行业标准QC3，其吞吐量，可靠性和易用性进行了重大升级。通过使用最佳的X射线源和光学技术，它可以将高通量与出色的可重复性相结合，从而可以在生产环境中快速反馈层质量和结构。
最佳X射线
来源和光学技术
真正的自动化操作
为了进行半导体底物的常规分析，标记结构和加工设备晶片
características
自动操作
QCVELOX-E提供了真正的自动化操作，具有直接的水平样品安装和完全自动化的对齐方式，包括无边界排除的完整映射的测量值以及自动数据分析。综合条形码读取器适合在生产环境中帮助生产力。
可选的机器人处理程序可用于盒式磁带的自动加载和测量，以及SECS-GEM和其他工厂主机系统的选项。
QCVELOX-E是用于所有复合半导体材料的半导体底物，表层结构和加工设备晶片的常规分析的必要工具。必威手机客户端
apoio
支持
我们能帮你什么吗？
Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术，并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后，这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。betway手机客户端下载
我们训练有素的支持工程师，应用程序科学家和主题专家团队全力致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训来最大化您的生产率。betway手机客户端下载