测量精密公差的光学三坐标测量机

µ坐标测量机

µCMM是第一台纯光学CMM机器，用于高精度测量极紧公差。用户结合触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优点，只需一个传感器即可测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。光学坐标测量机提供了多个光学3D测量的高几何精度，能够测量大型部件上的小表面细节，并精确确定这些单独测量的位置。可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。通过单按钮解决方案、自动化和人体工程学控制元件（如专门设计的控制器）实现简单操作。采用线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、快速测量。必威东盟体育必威手机客户端

E_{Uni:Tr:ODS，MPE}=（0.8+L/600）μm
E_{UniZ:St:ODS，MPE}=（0.15+L/50）µm

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技术规格|µCMM

测量原理	非接触、光学、三维、基于焦点变化，包括垂直焦点探测技术
测量点数量	单次测量：X:1720，Y:1720，X:295万多重测量：高达5亿
定位体积（X X Y X Z）	310 mm x 310 mm x 310 mm=29 791 000 mm³
轴的移动速度	高达100毫米/秒
同轴照明	LED同轴照明（彩色），大功率，电子控制
系统监控	9个温度传感器（精度：±0.1 K），3个振动传感器，内部电流和电压监测，包括长期记录，可检索
三维精度10360-8^{给出的值基于ISO 10360-8和VDI 2617}	E_{Uni:Tr:ODS，MPE}=（0.8+L/600）μm（L单位：mm）^{轴精度基于ISO 10360-8。} E_{UniZ:St:ODS，MPE}=（0.15+L/50）μm（L单位为毫米）^{适用于单次测量、高度阶跃测量}

客观的		3000WD8	1900WD30	1500WD23	1500WD70	800WD17	800WD37	400WD19	150WD11
工作距离	嗯	8.8	30	23.5	64.4	17.5	37	19	11
横向测量范围（X，Y）（X X Y）	嗯平方毫米	5.26 27.64	3.29 10.8	2.63 6.91	2.63 6.91	1.32 1.71	1.32 1.71	0.66 0.43	0.26 0.06

有关更多信息，请下载产品传单或向我们发送请求。

µCMM提供

直观的可用性，专为多用户设计

可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关，包括行业中常用的所有材料和复合材料，从亚光到抛光或镜像组件。必威手机客户端

密集非接触和材料独立测量

Alicona测量系统提供表面和坐标测量系统的功能，并组合成一个系统。因此，您的质量保证变得更具成本效益、更易于执行并更高效地交付结果。

无磨损，高效使用

包括移动轴在内的所有部件均无接触运行。空气轴承线性驱动轴可实现无磨损操作和高精度、快速测量。这使得μCMM非常适合在生产中永久使用。

新软件MetMax

从“我如何测量？”到“我测量什么？”

焦点变化技术

Alicona测量系统基于焦点变化技术，结合了表面粗糙度测量装置和形状测量系统的功能。每个Alicona测量仪器都是一个表面测量装置、表面粗糙度测量系统、几何公差三维测量系统和微坐标测量系统. 焦点变化技术结合了具有垂直扫描的光学系统的小焦距，通过焦距变化提供地形和颜色信息. 该系统的主要组成部分是一个精密光学系统，包含各种透镜系统，可配备不同的物镜，允许以不同的分辨率进行测量。