Xflash 6-100椭圆形
SEM，FIB-SEM和Stem-In-SEM的高收集角窗口EDS系统
这个大面积，高收集角度，无窗eds.卵形形状为100 mm的探测器2SDD仔细定制了SEM中的特定几何体。艺术切割线设计的独特形状和状态允许优化实现高达0.4 SR的X射线集合的实线角度的采集位置，而不会影响SEM性能。
总之，Xflash®6-100椭圆形提供以下优点：
- 100毫米2地区，窗口
- 固体收集角度高达0.4 sR，适应变化
- 所有SEM类型的最大加速电压：30 keV
- 典型为30°... 35°的起飞角
- 焊接波纹管和X射线紧密快门（可选）
- 无干涉冷却系统
- 自动检测器收缩系统
- 优异的轻质元件和低能量性能
- Bruker多功能的所有优势分析软件
建议Xflash的申请领域®6-100椭圆形是：
EDS在SEM，FIB-SEM和Stem-In-SEM中的高端元素分析：
- 低kV和光束敏感样品
- 光元素分析
- 高空间分辨率
- 快速数据采集